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Deutschland - Elektronenmikroskope - TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP (TEM), Aktz.: PR965778 (OV)

Awarded Contract award

Key facts

Winner
JEOL (Germany) GmbH
Awarded value
€2,700,000
Buyer
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., IKTS
Where
Germany Dresden
Procedure
Open procedure Anyone may submit a bid, in one step, with no pre-selection. Full entry Above the EU threshold A contract large enough that EU-wide rules apply and it must be published on TED. Full entry
CPV code The EU's common vocabulary for what is being bought: an eight-digit code every notice carries. Full entry
38511000 Electron microscopes
Original language
German
Source
via TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), verified 1 month ago
Notice number
41947-2026
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  2. Awarded pending

Description

Im Rahmen des offenen Verfahrens wird ein TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP (TEM) ausgeschrieben. Die Abteilung für Mikroelektronische Materialien und Nanoanalyse am Fraunhofer IKTS arbeitet im Bereich der mikro- und nanoelektronischen Materialien, fortschrittlichen Charakterisierungstechniken sowie der Technologie- und Methodenentwicklung. Die Gruppe konzentriert sich auf ein tiefgehendes Verständnis von Materialien und Fertigungstechnologien mithilfe von multiskaligen Charakterisierungstechniken, Mikro- und Nanoanalysen bis hinunter zur Nanometerskala, mikro- und nanomechanischen Materialtests und der Entwicklung von in-situ-Methoden in Elektronen- und Röntgenmikroskopen. Ein neues Themengebiet stellt die Analytik an Widebandgap-Halbleitermaterialien wie Siliziumkarbid (SiC), Galliumnitrid (GaN) und Galliumarsenid (GaAs) dar. Ein zentrales Ziel ist dabei die Bestimmung der Defektdichte, um die Qualität der Materialien quantitativ bewerten zu können. Das Fraunhofer IKTS beschäftigt sich im Projekt SAXCRYSTALPOWER mit der Herstellung und Analyse des Widebandgap-Halbleitermaterials SiC. Im Rahmen der EFRE InfraProNET-Förderung (Förderkennzeichen 100703912) soll ein (Raster-) Transmissionselektronenmikroskops ((S)TEM) mit 300 kV Standardbeschleunigungsspannung angeschafft werden. Damit sollen nicht nur die Möglichkeiten zur Analyse der angesprochenen Widebandgap-Halbleitermaterialien geschaffen werden, sondern auch die bereits vorhandene Expertise in den Gebieten der Materialwissenschaften, Nanotechnologie usw. zukunftsfähig gemacht werden. Details entnehmen Sie den Vergabeunterlagen.

Official source

Source: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Always verify details on the official notice.

Last verified against TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 month ago

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