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Deutschland - Elektronenmikroskope - TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP (TEM), Aktz.: PR965778 (OV)

Aggiudicata Avviso di aggiudicazione

Dati principali

Aggiudicatario
JEOL (Germany) GmbH
Importo aggiudicato
2.700.000 €
Stazione appaltante
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., IKTS
Dove
Germania Dresden
Procedura
Procedura aperta Chiunque può presentare un'offerta, in un solo passaggio, senza preselezione. Voce completa Sopra la soglia europea Un appalto abbastanza grande perché si applichino le regole europee e vada pubblicato su TED. Voce completa
Codice CPV Il vocabolario comune dell'UE per l'oggetto dell'acquisto: un codice a otto cifre presente in ogni bando. Voce completa
38511000 Microscopi elettronici
Lingua originale
Tedesco
Fonte
tramite TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), verificato 1 mese fa
Numero dell'avviso
41947-2026
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  1. Pubblicata
  2. Aggiudicata in attesa

Descrizione

Im Rahmen des offenen Verfahrens wird ein TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP (TEM) ausgeschrieben. Die Abteilung für Mikroelektronische Materialien und Nanoanalyse am Fraunhofer IKTS arbeitet im Bereich der mikro- und nanoelektronischen Materialien, fortschrittlichen Charakterisierungstechniken sowie der Technologie- und Methodenentwicklung. Die Gruppe konzentriert sich auf ein tiefgehendes Verständnis von Materialien und Fertigungstechnologien mithilfe von multiskaligen Charakterisierungstechniken, Mikro- und Nanoanalysen bis hinunter zur Nanometerskala, mikro- und nanomechanischen Materialtests und der Entwicklung von in-situ-Methoden in Elektronen- und Röntgenmikroskopen. Ein neues Themengebiet stellt die Analytik an Widebandgap-Halbleitermaterialien wie Siliziumkarbid (SiC), Galliumnitrid (GaN) und Galliumarsenid (GaAs) dar. Ein zentrales Ziel ist dabei die Bestimmung der Defektdichte, um die Qualität der Materialien quantitativ bewerten zu können. Das Fraunhofer IKTS beschäftigt sich im Projekt SAXCRYSTALPOWER mit der Herstellung und Analyse des Widebandgap-Halbleitermaterials SiC. Im Rahmen der EFRE InfraProNET-Förderung (Förderkennzeichen 100703912) soll ein (Raster-) Transmissionselektronenmikroskops ((S)TEM) mit 300 kV Standardbeschleunigungsspannung angeschafft werden. Damit sollen nicht nur die Möglichkeiten zur Analyse der angesprochenen Widebandgap-Halbleitermaterialien geschaffen werden, sondern auch die bereits vorhandene Expertise in den Gebieten der Materialwissenschaften, Nanotechnologie usw. zukunftsfähig gemacht werden. Details entnehmen Sie den Vergabeunterlagen.

Fonte ufficiale

Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica sempre i dettagli nell'avviso ufficiale.

Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 mese fa

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