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Deutschland - Elektronenmikroskope - TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP (TEM), Aktz.: PR965778 (OV)

Vergeben Vergabebekanntmachung

Eckdaten

Zuschlagsempfänger
JEOL (Germany) GmbH
Zuschlagswert
2.700.000 €
Auftraggeber
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., IKTS
Ort
Deutschland Dresden
Verfahren
Offenes Verfahren Jeder darf in einem Schritt ein Angebot abgeben, ohne Vorauswahl. Ganzer Eintrag Oberhalb des EU-Schwellenwerts Ein Auftrag, der groß genug ist, dass EU-weite Regeln gelten und er auf TED erscheinen muss. Ganzer Eintrag
CPV-Code Das EU-weite Vokabular für den Beschaffungsgegenstand: ein achtstelliger Code in jeder Bekanntmachung. Ganzer Eintrag
38511000 Elektronenmikroskope
Originalsprache
Deutsch
Quelle
über TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), geprüft vor 1 Monat
Bekanntmachungsnummer
41947-2026
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Die Angebotsfrist ist vorbei. Ein Zuschlag oder eine Berichtigung zu dieser Bekanntmachung: eine E-Mail, wenn das Register es sieht. Anmelden

  1. Veröffentlicht
  2. Vergeben ausstehend

Beschreibung

Im Rahmen des offenen Verfahrens wird ein TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP (TEM) ausgeschrieben. Die Abteilung für Mikroelektronische Materialien und Nanoanalyse am Fraunhofer IKTS arbeitet im Bereich der mikro- und nanoelektronischen Materialien, fortschrittlichen Charakterisierungstechniken sowie der Technologie- und Methodenentwicklung. Die Gruppe konzentriert sich auf ein tiefgehendes Verständnis von Materialien und Fertigungstechnologien mithilfe von multiskaligen Charakterisierungstechniken, Mikro- und Nanoanalysen bis hinunter zur Nanometerskala, mikro- und nanomechanischen Materialtests und der Entwicklung von in-situ-Methoden in Elektronen- und Röntgenmikroskopen. Ein neues Themengebiet stellt die Analytik an Widebandgap-Halbleitermaterialien wie Siliziumkarbid (SiC), Galliumnitrid (GaN) und Galliumarsenid (GaAs) dar. Ein zentrales Ziel ist dabei die Bestimmung der Defektdichte, um die Qualität der Materialien quantitativ bewerten zu können. Das Fraunhofer IKTS beschäftigt sich im Projekt SAXCRYSTALPOWER mit der Herstellung und Analyse des Widebandgap-Halbleitermaterials SiC. Im Rahmen der EFRE InfraProNET-Förderung (Förderkennzeichen 100703912) soll ein (Raster-) Transmissionselektronenmikroskops ((S)TEM) mit 300 kV Standardbeschleunigungsspannung angeschafft werden. Damit sollen nicht nur die Möglichkeiten zur Analyse der angesprochenen Widebandgap-Halbleitermaterialien geschaffen werden, sondern auch die bereits vorhandene Expertise in den Gebieten der Materialwissenschaften, Nanotechnologie usw. zukunftsfähig gemacht werden. Details entnehmen Sie den Vergabeunterlagen.

Amtliche Quelle

Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.

Zuletzt mit TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) abgeglichen vor 1 Monat

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