Przejdź do treści
Aperlena
Darmowe alerty

Deutschland - Elektronenmikroskope - TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP (TEM), Aktz.: PR965778 (OV)

Udzielony Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia

Najważniejsze informacje

Wykonawca
JEOL (Germany) GmbH
Wartość umowy
2 700 000 €
Zamawiający
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., IKTS
Miejsce
Niemcy Dresden
Tryb postępowania
Przetarg nieograniczony Każdy może złożyć ofertę, w jednym etapie, bez wstępnej selekcji. Pełne hasło Powyżej progu unijnego Zamówienie na tyle duże, że stosuje się przepisy unijne i musi zostać opublikowane w TED. Pełne hasło
Kod CPV Wspólny słownik UE dla przedmiotu zamówienia: ośmiocyfrowy kod w każdym ogłoszeniu. Pełne hasło
38511000 Mikroskopy elektronowe
Język oryginału
Niemiecki
Źródło
przez TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), sprawdzono 1 miesiąc temu
Numer ogłoszenia
41947-2026
Obserwuj ten przetarg

Składanie ofert zakończone. Udzielenie zamówienia lub sprostowanie tego ogłoszenia: e-mail, gdy rejestr to zobaczy. Zaloguj się

  1. Opublikowano
  2. Udzielony oczekuje

Opis

Im Rahmen des offenen Verfahrens wird ein TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP (TEM) ausgeschrieben. Die Abteilung für Mikroelektronische Materialien und Nanoanalyse am Fraunhofer IKTS arbeitet im Bereich der mikro- und nanoelektronischen Materialien, fortschrittlichen Charakterisierungstechniken sowie der Technologie- und Methodenentwicklung. Die Gruppe konzentriert sich auf ein tiefgehendes Verständnis von Materialien und Fertigungstechnologien mithilfe von multiskaligen Charakterisierungstechniken, Mikro- und Nanoanalysen bis hinunter zur Nanometerskala, mikro- und nanomechanischen Materialtests und der Entwicklung von in-situ-Methoden in Elektronen- und Röntgenmikroskopen. Ein neues Themengebiet stellt die Analytik an Widebandgap-Halbleitermaterialien wie Siliziumkarbid (SiC), Galliumnitrid (GaN) und Galliumarsenid (GaAs) dar. Ein zentrales Ziel ist dabei die Bestimmung der Defektdichte, um die Qualität der Materialien quantitativ bewerten zu können. Das Fraunhofer IKTS beschäftigt sich im Projekt SAXCRYSTALPOWER mit der Herstellung und Analyse des Widebandgap-Halbleitermaterials SiC. Im Rahmen der EFRE InfraProNET-Förderung (Förderkennzeichen 100703912) soll ein (Raster-) Transmissionselektronenmikroskops ((S)TEM) mit 300 kV Standardbeschleunigungsspannung angeschafft werden. Damit sollen nicht nur die Möglichkeiten zur Analyse der angesprochenen Widebandgap-Halbleitermaterialien geschaffen werden, sondern auch die bereits vorhandene Expertise in den Gebieten der Materialwissenschaften, Nanotechnologie usw. zukunftsfähig gemacht werden. Details entnehmen Sie den Vergabeunterlagen.

Oficjalne źródło

Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Ostatnia weryfikacja w TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 miesiąc temu

Zobacz oficjalne ogłoszenie

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

2 otwarte przetargi w tej chwili

Ostatnie udzielenia

Historia zmian

Każdy przypadek ponownej publikacji tego ogłoszenia przez oficjalne źródło ze zmieniona treścią. Monitorujemy wszystkie źródła, które indeksujemy, w tym regionalne kopie tego samego ogłoszenia.

  1. Przeczytaj przed złożeniem oferty
    • Przedmiot i kryteria: Opis został rozszerzony. Przeczytaj ponownie przed złożeniem oferty.

Obserwuj ten przetarg, a napiszemy do Ciebie, gdy tylko się zmieni. Załóż konto

Podobne przetargi

Kontekst rynkowy

Śr. otwarty przetarg · Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny
5 411 202 €
2 007 otwartych teraz w Europie
Historia zamawiającego w Aperlena
18 zarejestrowanych ogłoszeń · 5 udzielonych
4 201 210 € w udzielonych zamówieniach

Nie przegap przetargów takich jak ten

66 nowych ogłoszeń w ostatnich 7 dniach: Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny, Niemcy. Otrzymuj e-mail, gdy pojawią się nowe ogłoszenia. Za darmo.

Ustaw mój alert
Otwórz ogłoszenie

Skróty klawiszowe

Przeglądaj listę bez sięgania po mysz. Skróty nie działają podczas pisania w polu.

j
Następny wynik
k
Poprzedni wynik
Enter
Otwórz wynik
n
Następna strona
p
Poprzednia strona
c
Porównaj ten wynik
s
Dodaj ten wynik do krótkiej listy
/
Szukaj z każdej strony
Ctrl K
Szukaj z każdej strony
?
Pokaż te skróty
Esc
Zamknij

Zacznij od pytania

Przeglądaj według branży

Spis treści

Zamknij
Zaloguj się

Język