Przejdź do treści
Aperlena
Darmowe alerty

Niemcy - Różne maszyny i urządzenia do celów specjalnych - Spektrometr masowy jonów wtórnych (SIMS) - PR1195891-2050-W

Oryginał Deutschland - Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke - Secondary ion mass spectrometer (SIMS) - PR1195891-2050-W

Zamknięty Ogłoszenie o zamówieniu

Najważniejsze informacje

Zamknięty
Zamawiający
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Miejsce
Niemcy Freiburg
Tryb postępowania
Przetarg nieograniczony Każdy może złożyć ofertę, w jednym etapie, bez wstępnej selekcji. Pełne hasło Powyżej progu unijnego Zamówienie na tyle duże, że stosuje się przepisy unijne i musi zostać opublikowane w TED. Pełne hasło
Kod CPV Wspólny słownik UE dla przedmiotu zamówienia: ośmiocyfrowy kod w każdym ogłoszeniu. Pełne hasło
42990000 Różne maszyny specjalnego zastosowania
Język oryginału
Niemiecki
Źródło
przez TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), sprawdzono 1 miesiąc temu
Numer ogłoszenia
583241-2026
Obserwuj ten przetarg

Składanie ofert zakończone. Udzielenie zamówienia lub sprostowanie tego ogłoszenia: e-mail, gdy rejestr to zobaczy. Zaloguj się

  1. Opublikowano
  2. Termin składania otwarte 30 dni
  3. Udzielony oczekuje

Streszczenie

Streszczenie wygenerowane automatycznie

Fraunhofer IAF w Niemczech zamierza zakupić jeden spektrometr masowy jonów wtórnych (SIMS). Urządzenie ma umożliwiać wysoce czułą analizę chemiczną materiałów i struktur półprzewodnikowych z profilowaniem w głębokości, o wysokiej rozdzielczości głębokościowej i dużym mocy rozdzielczej mas. Będzie służyło do precyzyjnego profilowania domieszek i zanieczyszczeń oraz dokładnego określania grubości i jednorodności warstw, ze szczególnym uwzględnieniem zaawansowanych struktur III-V i na bazie diamentu, w tym podłoży 150 mm, wspierając rozwój procesów, kontrolę jakości i optymalizację. Zainteresowani dostawcy powinni zapoznać się z oficjalną dokumentacją przetargową.

Opis

Secondary ion mass spectrometer (SIMS) 1 pc. The objective is to procure a highly sensitive SIMS instrument for depth-profiled chemical analysis of semiconductor materials and structures, offering high depth resolution and high mass resolving power. The system shall enable precise dopant and impurity profiling, as well as accurate determination of layer thickness and homogeneity, with a focus on characterizing advanced III-V and diamond-based device structures and epitaxial layers, including 150 mm substrates, to support process development, quality control and optimization at Fraunhofer IAF.

Oficjalne źródło

Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Zgłoś błąd w tym ogłoszeniu

Ostatnia weryfikacja w TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 miesiąc temu

Zobacz oficjalne ogłoszenie

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

21 otwartych przetargów w tej chwili

Ostatnie udzielenia

Podobne przetargi

Kontekst rynkowy

Śr. otwarty przetarg · Maszyny przemysłowe
1 745 346 €
2 450 otwartych teraz w Europie
Historia zamawiającego w Aperlena
136 zarejestrowanych ogłoszeń · 68 udzielonych

Nie przegap przetargów takich jak ten

44 nowych ogłoszeń w ostatnich 7 dniach: Maszyny przemysłowe, Niemcy. Otrzymuj e-mail, gdy pojawią się nowe ogłoszenia. Za darmo.

Ustaw mój alert
Otwórz ogłoszenie

Skróty klawiszowe

Przeglądaj listę bez sięgania po mysz. Skróty nie działają podczas pisania w polu.

j
Następny wynik
k
Poprzedni wynik
Enter
Otwórz wynik
n
Następna strona
p
Poprzednia strona
c
Porównaj ten wynik
s
Dodaj ten wynik do krótkiej listy
/
Szukaj z każdej strony
Ctrl K
Szukaj z każdej strony
?
Pokaż te skróty
Esc
Zamknij

Zacznij od pytania

Przeglądaj według branży

Spis treści

Zamknij
Zaloguj się

Język