Aller au contenu
Aperlena
Alertes gratuites

Allemagne - Diverses machines et appareils à usages spéciaux - Spectromètre de masse à ions secondaires (SIMS) - PR1195891-2050-W

Original Deutschland - Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke - Secondary ion mass spectrometer (SIMS) - PR1195891-2050-W

Clôturé Avis de marché

Informations clés

Clôturé
Acheteur public
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Lieu
Allemagne Freiburg
Procédure
Procédure ouverte Toute entreprise peut remettre une offre, en une seule étape, sans présélection. Entrée complète Au-dessus du seuil européen Un marché assez important pour que les règles européennes s'appliquent et qu'il paraisse sur TED. Entrée complète
Code CPV Le vocabulaire commun de l'UE pour ce qui est acheté : un code à huit chiffres présent dans chaque avis. Entrée complète
42990000 Machines diverses à usage spécifique
Langue d'origine
Allemand
Source
via TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), vérifié il y a 4 semaines
Numéro de l'avis
583241-2026
Suivre ce marché

Les offres sont closes. Une attribution ou un rectificatif sur cet avis : un e-mail quand le registre le voit. Se connecter

  1. Publié
  2. Date limite ouvert 30 jours
  3. Attribué en attente

Résumé

Résumé généré automatiquement

Le Fraunhofer IAF en Allemagne souhaite acquérir un spectromètre de masse à ions secondaires (SIMS). L'instrument doit permettre une analyse chimique très sensible des matériaux et structures semi-conducteurs avec une résolution en profondeur et un pouvoir de résolution en masse élevés. Il servira au profilage précis des dopants et impuretés, à la détermination exacte de l'épaisseur et de l'homogénéité des couches, en se concentrant sur les structures avancées à base de III-V et de diamant ainsi que les couches épitaxiales, y compris des substrats de 150 mm, afin de soutenir le développement des procédés, le contrôle qualité et l'optimisation.

Description

Secondary ion mass spectrometer (SIMS) 1 pc. The objective is to procure a highly sensitive SIMS instrument for depth-profiled chemical analysis of semiconductor materials and structures, offering high depth resolution and high mass resolving power. The system shall enable precise dopant and impurity profiling, as well as accurate determination of layer thickness and homogeneity, with a focus on characterizing advanced III-V and diamond-based device structures and epitaxial layers, including 150 mm substrates, to support process development, quality control and optimization at Fraunhofer IAF.

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

Signaler une erreur dans cet avis

Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 4 semaines

Consulter l'avis officiel

Plus de cet acheteur

Profil complet de l'acheteur

21 marchés ouverts actuellement

Attributions récentes

Marchés similaires

Contexte de marché

Appel ouvert moyen · Machines industrielles
1 781 016 €
2 434 ouverts en Europe actuellement
Historique de l'acheteur sur Aperlena
136 avis suivis · 68 attribués

Ne manquez plus aucun marché comme celui-ci

40 nouveaux avis pour Machines industrielles en Allemagne au cours des 7 derniers jours. Recevez un e-mail quand de nouveaux avis paraissent. Gratuit.

Créer mon alerte
Ouvrir l'avis

Raccourcis clavier

Parcourir une liste sans toucher la souris. Les raccourcis restent inactifs pendant la saisie dans un champ.

j
Résultat suivant
k
Résultat précédent
Entrée
Ouvrir le résultat
n
Page suivante
p
Page précédente
c
Comparer ce résultat
s
Ajouter ce résultat à la présélection
/
Rechercher depuis n’importe quelle page
Ctrl K
Rechercher depuis n’importe quelle page
?
Afficher ces raccourcis
Échap
Fermer

Partir d'une question

Parcourir par secteur

Sommaire

Fermer
Se connecter

Langue