Zum Inhalt springen
Aperlena

Deutschland - Elektronische Messgeräte - 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) - PR1227015-2440-P

Geschlossen Auftragsbekanntmachung
Ausschreibung beobachten

Die Angebotsfrist ist vorbei. Ein Zuschlag oder eine Berichtigung zu dieser Bekanntmachung: eine E-Mail, wenn das Register es sieht. Anmelden

  1. Veröffentlicht
  2. Frist 33 Tage offen
  3. Vergeben ausstehend

Zusammenfassung

Maschinell erstellte Zusammenfassung

Das Fraunhofer IIS in Deutschland beschafft ein 200 mm Wafer-Probersystem für Charakterisierung und Test-Engineering von Sensor-ICs und Chiplets. Das System muss 200 mm und 300 mm Wafer sowie 300 mm Dicing-Frames handhaben können. Im Fokus liegen Probing-Genauigkeit und die Anregung von optischen und magnetischen Sensoren, inklusive abgedunkelter DuT-Kammer und nicht-magnetischem Wafer-Chuck. Optionen umfassen ATT-Trockenluftregelung, Hochspannungsvorbereitung, OCR-Lesegerät, Wafer-ID-Erfassung sowie Fernsteuerungsschnittstellen wie GPIB. Interessierte Unternehmen sollten die Vergabeunterlagen für Einzelheiten zum Verfahren beachten.

Beschreibung

1 Stück 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) This specification describes the requirements for one wafer probing system to be used for characterization and test engineering for sensor ICs and chiplets at the Fraunhofer IIS. The system must allow handling of 200 mm and 300 mm wafers and 300 mm dicing frames. The focus in the usage of the machine does not depend on short handling time and high throughput, but on accuracy in probing and possibility for stimulation of optical and magnetical sensors. For stimulation of optical sensors a darkened DuT chamber is mandatory. The Wafer Chuck has to be made off non-magnetic metarials to prevent distortion while characterizing magnetic field sensors. Option: 4.2 Wafer-Spannfutter ATT-Trockenluftregelung 4.9 Wafer-Spannfutter Hochspannungsvorbereitung 5.5 Beladung OCR-Lesegerät (Oberseite) 5.6 Beladung Wafer-ID-Erfassung für Text mit Standard- und Nicht-Standard-Schriftarten, Barcode und QR-Code 9.1 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung Möglichkeit zur Fernsteuerung des Prober-Systems 9.2 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung GPIB-Schnittstelle (IEEE-488)

Amtliche Quelle

Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.

Zuletzt mit TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) abgeglichen vor 1 Monat

Mehr von diesem Auftraggeber

Vollständiges Auftraggeberprofil

86 offene Ausschreibungen derzeit

Jüngste Vergaben

Ähnliche Ausschreibungen

1

Tag übrig

Neu · Dynamische Lichtstreuung

Deutschland Labor- & Präzisionsgeräte Institut für Umwelt & Energie, Technik & Analytik .V. (IUTA)

Marktkontext

Ø offene Ausschreibung · Labor- & Präzisionsgeräte
5.506.547 €
2.010 aktuell offen in Europa
Vergabehistorie auf Aperlena
384 erfasste Bekanntmachungen · 181 vergeben
651.275 € vergebenes Volumen

Verpassen Sie keine Ausschreibung wie diese

67 neue Bekanntmachungen für Labor- & Präzisionsgeräte in Deutschland in den letzten 7 Tagen. Erhalten Sie eine E-Mail, wenn neue erscheinen. Kostenlos.

Benachrichtigung einrichten

Tastaturkürzel

Eine Liste lesen, ohne zur Maus zu greifen. In einem Eingabefeld bleiben die Kürzel stumm.

j
Nächstes Ergebnis
k
Vorheriges Ergebnis
Enter
Ergebnis öffnen
n
Nächste Seite
p
Vorherige Seite
c
Dieses Ergebnis vergleichen
s
Dieses Ergebnis auf die Merkliste setzen
/
Zum Suchfeld springen
?
Diese Kürzel anzeigen
Esc
Schließen