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Germania - Strumenti di misura elettronici - 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) - PR1227015-2440-P

Originale Deutschland - Elektronische Messgeräte - 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) - PR1227015-2440-P

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  1. Pubblicata
  2. Scadenza aperta 33 giorni
  3. Aggiudicata in attesa

Sintesi

Sintesi generata automaticamente

Il Fraunhofer IIS in Germania acquista un sistema di probe per wafer da 200 mm per la caratterizzazione e il testing di IC per sensori e chiplet. Il sistema deve gestire wafer da 200 mm e 300 mm e frame di taglio da 300 mm. L'attenzione è rivolta alla precisione del probing e alla stimolazione di sensori ottici e magnetici, con camera DuT oscurata obbligatoria e chuck non magnetico. Opzioni: regolazione aria secca, preparazione alta tensione, lettore OCR, acquisizione ID wafer e interfacce di controllo remoto come GPIB.

Descrizione

1 Stück 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) This specification describes the requirements for one wafer probing system to be used for characterization and test engineering for sensor ICs and chiplets at the Fraunhofer IIS. The system must allow handling of 200 mm and 300 mm wafers and 300 mm dicing frames. The focus in the usage of the machine does not depend on short handling time and high throughput, but on accuracy in probing and possibility for stimulation of optical and magnetical sensors. For stimulation of optical sensors a darkened DuT chamber is mandatory. The Wafer Chuck has to be made off non-magnetic metarials to prevent distortion while characterizing magnetic field sensors. Option: 4.2 Wafer-Spannfutter ATT-Trockenluftregelung 4.9 Wafer-Spannfutter Hochspannungsvorbereitung 5.5 Beladung OCR-Lesegerät (Oberseite) 5.6 Beladung Wafer-ID-Erfassung für Text mit Standard- und Nicht-Standard-Schriftarten, Barcode und QR-Code 9.1 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung Möglichkeit zur Fernsteuerung des Prober-Systems 9.2 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung GPIB-Schnittstelle (IEEE-488)

Fonte ufficiale

Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica sempre i dettagli nell'avviso ufficiale.

Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 mese fa

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