Przejdź do treści
Aperlena
Język:

Niemcy - Elektroniczne przyrządy pomiarowe - 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) - PR1227015-2440-P

Oryginał Deutschland - Elektronische Messgeräte - 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) - PR1227015-2440-P

Zamknięty Ogłoszenie o zamówieniu
Obserwuj ten przetarg

Składanie ofert zakończone. Udzielenie zamówienia lub sprostowanie tego ogłoszenia: e-mail, gdy rejestr to zobaczy. Zaloguj się

  1. Opublikowano
  2. Termin składania otwarte 33 dni
  3. Udzielony oczekuje

Streszczenie

Streszczenie wygenerowane automatycznie

Fraunhofer IIS w Niemczech zakupuje system probowania wafli 200 mm do charakteryzacji i testowania układów scalonych czujników oraz chipletów. System musi obsługiwać wafle 200 mm i 300 mm oraz ramki do cięcia 300 mm. Priorytetem jest dokładność probowania i stymulacja czujników optycznych i magnetycznych, z obowiązkową przyciemnianą komorą DuT oraz niemagnetycznym chuckiem waflowym. Opcje: regulacja suchego powietrza, przygotowanie wysokiego napięcia, czytnik OCR, odczyt ID wafla oraz interfejsy zdalnego sterowania, takie jak GPIB.

Opis

1 Stück 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing (IIS-05.1) This specification describes the requirements for one wafer probing system to be used for characterization and test engineering for sensor ICs and chiplets at the Fraunhofer IIS. The system must allow handling of 200 mm and 300 mm wafers and 300 mm dicing frames. The focus in the usage of the machine does not depend on short handling time and high throughput, but on accuracy in probing and possibility for stimulation of optical and magnetical sensors. For stimulation of optical sensors a darkened DuT chamber is mandatory. The Wafer Chuck has to be made off non-magnetic metarials to prevent distortion while characterizing magnetic field sensors. Option: 4.2 Wafer-Spannfutter ATT-Trockenluftregelung 4.9 Wafer-Spannfutter Hochspannungsvorbereitung 5.5 Beladung OCR-Lesegerät (Oberseite) 5.6 Beladung Wafer-ID-Erfassung für Text mit Standard- und Nicht-Standard-Schriftarten, Barcode und QR-Code 9.1 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung Möglichkeit zur Fernsteuerung des Prober-Systems 9.2 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung GPIB-Schnittstelle (IEEE-488)

Oficjalne źródło

Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Ostatnia weryfikacja w TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 miesiąc temu

Zobacz oficjalne ogłoszenie

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

86 otwartych przetargów w tej chwili

Ostatnie udzielenia

Podobne przetargi

1

dzień do końca

Dynamiczne rozpraszanie światła

Niemcy Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny Institut für Umwelt & Energie, Technik & Analytik .V. (IUTA)

Kontekst rynkowy

Śr. otwarty przetarg · Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny
5 484 860 €
2 038 otwartych teraz w Europie
Historia zamawiającego w Aperlena
384 zarejestrowanych ogłoszeń · 181 udzielonych
651 275 € w udzielonych zamówieniach

Nie przegap przetargów takich jak ten

67 nowych ogłoszeń w ostatnich 7 dniach: Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny, Niemcy. Otrzymuj e-mail, gdy pojawią się nowe ogłoszenia. Za darmo.

Ustaw mój alert
Źródło

Skróty klawiszowe

Przeglądaj listę bez sięgania po mysz. Skróty nie działają podczas pisania w polu.

j
Następny wynik
k
Poprzedni wynik
Enter
Otwórz wynik
n
Następna strona
p
Poprzednia strona
c
Porównaj ten wynik
s
Dodaj ten wynik do krótkiej listy
/
Przejdź do pola wyszukiwania
?
Pokaż te skróty
Esc
Zamknij