Résumé
Résumé généré automatiquementVTT Technical Research Centre of Finland Ltd a acquis un outil de métrologie de wafer semi-automatique pour mesurer l'épaisseur totale, la variation d'épaisseur totale, le gauchissement, la flèche, les bosses de métallisation, la profondeur des tranchées ou des vias et des facteurs géométriques sur des substrats tels que des wafers de silicium, des puces, des wafers empilés, des puces empilées, des échantillons contenant des oxydes mixtes et des matériaux minces déposés. L'outil devait pouvoir être installé dans une salle blanche classée ISO 4. Le contrat a été attribué à FRT GmbH pour 464 674 EUR.
Description
Source officielle
Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)
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