Description
Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1
Official source
Source: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)
Always verify details on the official notice.
Last verified against TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 month ago
More from this buyer
Full buyer profile3 open tenders right now
- Nederland - Draaibanken, boor- of freesmachines - 12028 - Draai- en freesmachine 3 days left
- Nederland - Bouwwerkzaamheden - Nieuwbouw QuTech No deadline published
- Nederland - Reparatie- en onderhoudsdiensten - Beheer en onderhoud WKC No deadline published
Recent awards
Similar tenders
Market context
- Avg. open tender · Laboratory & precision equipment
- €5,680,396
- Buyer track record on Aperlena
- 57 notices tracked · 42 awarded
- €81,560,799 in awarded contracts
Never miss a tender like this
Get an email for new tenders matching: Laboratory & precision equipment · Netherlands. Free.
Set up my alert