Beschreibung
Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1
Amtliche Quelle
Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)
Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.
Zuletzt mit TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) abgeglichen vor 1 Monat
Mehr von diesem Auftraggeber
Vollständiges Auftraggeberprofil3 offene Ausschreibungen derzeit
- Nederland - Draaibanken, boor- of freesmachines - 12028 - Draai- en freesmachine Noch 3 Tage
- Nederland - Bouwwerkzaamheden - Nieuwbouw QuTech Keine Frist veröffentlicht
- Nederland - Reparatie- en onderhoudsdiensten - Beheer en onderhoud WKC Keine Frist veröffentlicht
Jüngste Vergaben
Ähnliche Ausschreibungen
Marktkontext
- Ø offene Ausschreibung · Labor- & Präzisionsgeräte
- 5.791.693 €
- Vergabehistorie auf Aperlena
- 57 erfasste Bekanntmachungen · 42 vergeben
- 81.560.799 € vergebenes Volumen
Verpassen Sie keine Ausschreibung wie diese
Erhalten Sie eine E-Mail zu neuen Ausschreibungen: Labor- & Präzisionsgeräte · Niederlande. Kostenlos.
Benachrichtigung einrichten