Przejdź do treści
Aperlena

Nederland - Elektronenmicroscopen - Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Udzielony Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia Nie opublikowano terminu
Obserwuj ten przetarg

Napiszemy, jeśli zmieni się termin lub pojawi się sprostowanie. Za darmo. Zaloguj się

  1. Opublikowano
  2. Udzielony oczekuje

Opis

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1

Oficjalne źródło

Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Ostatnia weryfikacja w TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 miesiąc temu

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

3 otwarte przetargi w tej chwili

Ostatnie udzielenia

Podobne przetargi

Kontekst rynkowy

Śr. otwarty przetarg · Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny
5 680 396 €
2 153 otwartych teraz w Europie
Historia zamawiającego w Aperlena
57 zarejestrowanych ogłoszeń · 42 udzielonych
81 560 799 € w udzielonych zamówieniach

Nie przegap przetargów takich jak ten

Otrzymuj e-mail o nowych przetargach: Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny · Holandia. Za darmo.

Ustaw mój alert

Skróty klawiszowe

Przeglądaj listę bez sięgania po mysz. Skróty nie działają podczas pisania w polu.

j
Następny wynik
k
Poprzedni wynik
Enter
Otwórz wynik
n
Następna strona
p
Poprzednia strona
c
Porównaj ten wynik
s
Dodaj ten wynik do krótkiej listy
/
Przejdź do pola wyszukiwania
?
Pokaż te skróty
Esc
Zamknij