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Aperlena

Deutschland - Spektrometer - Photolumineszenz-Mapper-NIR - PR1150863-3240-W

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Das Aperlena-Urteil

Offenes Rennen

Kein Anbieter dominiert: 13 verschiedene Unternehmen haben die letzten 13 vergleichbaren Aufträge dieses Auftraggebers in 5 Jahren gewonnen. Ein wirklich offenes Rennen.

Basierend auf 13 vergleichbaren Zuschlägen dieses Auftraggebers in dieser Branche über 5 Jahre. Jedes Urteil wird vor dem Ergebnis festgehalten und an der Zuschlagsbekanntmachung gemessen. Wie wir uns selbst bewerten.

Zusammenfassung

Maschinell erstellte Zusammenfassung

Beschafft wird ein Photolumineszenz-Mapping-Geraet im Nahinfrarotbereich zur Charakterisierung direkter Halbleiter. Das Instrument muss in einem Spektralbereich von 800 bis 2150 nm messen, geeignet fuer (AlInGa)(AsP)-Heterostrukturen, und ganze Wafer von 2 bis 6 Zoll (50 mm bis 150 mm) Durchmesser mappen koennen. In der Epitaxie werden ganze Wafer PL-gemapped, um Informationen zu Bandluecke, Gleichmaessigkeit, Schichtdicke und Cavity Dip zu erhalten. Optionale Posten umfassen eine automatisierte Anregungsdichteeinstellung fuer Laser 1, einen DPSS-Laser 2 zum InGaAs-Kontakt-Bleach-out fuer Schichten von 50 bis 200 nm Dicke, einen flexiblen Probenhalter mit Vakuumspannung ueber den gesamten Chuck sowie eine Halterung fuer eine DataRay BladeCam2.

Beschreibung

Photolumineszenz-Mapper-NIR Photoluminescences is a versaille method for characterisation of direct semiconductors. In epitaxy typically whole wafers get PL-mapped to achive information on bandgap, uniformity, layer thickness or cavity dip. The desired tool is capable to measure in a spectral range from 800-2150nm, due to the (AlInGa)(AsP)-heterostructures which are matter of investigations. The setup is capable of mapping entire 2 - 6 inch (50mm - 150mm) wafers. Options: 1. Excitation density tuning for Laser 1 (automized) 2. Laser 2 (DPSS) for InGaAs-contact bleach out for layers with thickness 50 - 200nm 3. Sample holder: Flexible sample positioning on entire chuck with vacuum clamping 4. Sample holder: Mount for DataRay BladeCam2

Amtliche Quelle

Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.

Zuletzt mit TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) abgeglichen vor 1 Woche

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Vollständiges Auftraggeberprofil

25 offene Ausschreibungen derzeit

Wer die Aufträge dieses Auftraggebers in diesem Sektor gewöhnlich gewinnt

Unternehmen Zuschläge Vergebenes Volumen Letzter Zuschlag
AB SCIEX GERMANY GmbH 1 k. A. Jul 2026
Active Fiber Systems GmbH 1 k. A. Jun 2026
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH 1 k. A. Jun 2026
Cytiva Europe GmbH 1 k. A. Mär 2026
Form+Test Seidner & Co. GmbH 1 k. A. Sep 2026

Grundlage: 13 Vergaben mit verknüpftem Unternehmensprofil aus den letzten 5 Jahren.

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Ø offene Ausschreibung · Labor- & Präzisionsgeräte
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