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Aperlena

Germania - Spettrometro - Mapper a fotoluminescenza NIR - PR1150863-3240-W

Originale Deutschland - Spektrometer - Photolumineszenz-Mapper-NIR - PR1150863-3240-W

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Il Verdetto Aperlena

Corsa aperta

Nessun fornitore domina: 13 aziende diverse si sono aggiudicate gli ultimi 13 contratti comparabili di questa stazione appaltante in 5 anni. Una corsa davvero aperta.

Basato su 13 aggiudicazioni comparabili di questa stazione appaltante nel settore in 5 anni. Ogni verdetto viene registrato prima dell'esito e confrontato con l'avviso di aggiudicazione. Come ci valutiamo.

Sintesi

Sintesi generata automaticamente

Viene acquistato uno strumento di mappatura a fotoluminescenza (PL) nel vicino infrarosso per la caratterizzazione di semiconduttori diretti. Lo strumento deve misurare in un intervallo spettrale da 800 a 2150 nm, adatto a eterostrutture (AlInGa)(AsP), e mappare wafer interi da 2 a 6 pollici (da 50 mm a 150 mm) di diametro. In epitassia, i wafer interi vengono mappati in PL per ottenere informazioni su bandgap, uniformita, spessore degli strati e cavita. Le opzioni comprendono la regolazione automatizzata della densita di eccitazione del laser 1, un laser 2 DPSS per il bleach out del contatto InGaAs per strati di 50-200 nm, un portacampione flessibile con fissaggio a vuoto sull'intero chuck, e un supporto per un DataRay BladeCam2.

Descrizione

Photolumineszenz-Mapper-NIR Photoluminescences is a versaille method for characterisation of direct semiconductors. In epitaxy typically whole wafers get PL-mapped to achive information on bandgap, uniformity, layer thickness or cavity dip. The desired tool is capable to measure in a spectral range from 800-2150nm, due to the (AlInGa)(AsP)-heterostructures which are matter of investigations. The setup is capable of mapping entire 2 - 6 inch (50mm - 150mm) wafers. Options: 1. Excitation density tuning for Laser 1 (automized) 2. Laser 2 (DPSS) for InGaAs-contact bleach out for layers with thickness 50 - 200nm 3. Sample holder: Flexible sample positioning on entire chuck with vacuum clamping 4. Sample holder: Mount for DataRay BladeCam2

Fonte ufficiale

Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica sempre i dettagli nell'avviso ufficiale.

Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 settimana fa

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Profilo completo del committente

25 gare aperte in questo momento

Chi si aggiudica di solito i contratti di questo committente in questo settore

Impresa Aggiudicazioni Importo totale aggiudicato Ultima aggiudicazione
AB SCIEX GERMANY GmbH 1 n/d lug 2026
Active Fiber Systems GmbH 1 n/d giu 2026
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH 1 n/d giu 2026
Cytiva Europe GmbH 1 n/d mar 2026
Form+Test Seidner & Co. GmbH 1 n/d set 2026

Sulla base di 13 aggiudicazioni con profilo aziendale collegato negli ultimi 5 anni.

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Contesto di mercato

Gara aperta media · Apparecchiature di laboratorio e di precisione
5.502.828 €
2.004 aperte ora in Europa
Storico della stazione appaltante su Aperlena
133 avvisi tracciati · 66 aggiudicati

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