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Aperlena

Allemagne - Spectrometre - Cartographe de photoluminescence NIR - PR1150863-3240-W

Original Deutschland - Spektrometer - Photolumineszenz-Mapper-NIR - PR1150863-3240-W

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Le Verdict Aperlena

Course ouverte

Aucun fournisseur ne domine : 13 entreprises différentes ont remporté les 13 derniers marchés comparables de cet acheteur en 5 ans. Une course réellement ouverte.

Sur la base de 13 attributions comparables de cet acheteur dans ce secteur sur 5 ans. Chaque verdict est consigné avant le résultat et confronté à l'avis d'attribution. Comment nous nous notons.

Résumé

Résumé généré automatiquement

L'achat concerne un outil de cartographie par photoluminescence (PL) dans le proche infrarouge pour la caracterisation de semi-conducteurs directs. L'instrument doit mesurer dans une gamme spectrale de 800 a 2150 nm, adaptee aux heterostructures (AlInGa)(AsP), et cartographier des wafers entiers de 2 a 6 pouces (50 mm a 150 mm) de diametre. En epitaxie, des wafers entiers sont cartographies par PL pour obtenir des informations sur le gap, l'uniformite, l'epaisseur de couche et le creux de cavite. Les options comprennent le reglage automatise de la densite d'excitation du laser 1, un laser 2 DPSS pour le bleach out du contact InGaAs pour des couches de 50 a 200 nm, un porte-echantillon flexible avec fixation sous vide sur tout le chuck, et un support pour un DataRay BladeCam2.

Description

Photolumineszenz-Mapper-NIR Photoluminescences is a versaille method for characterisation of direct semiconductors. In epitaxy typically whole wafers get PL-mapped to achive information on bandgap, uniformity, layer thickness or cavity dip. The desired tool is capable to measure in a spectral range from 800-2150nm, due to the (AlInGa)(AsP)-heterostructures which are matter of investigations. The setup is capable of mapping entire 2 - 6 inch (50mm - 150mm) wafers. Options: 1. Excitation density tuning for Laser 1 (automized) 2. Laser 2 (DPSS) for InGaAs-contact bleach out for layers with thickness 50 - 200nm 3. Sample holder: Flexible sample positioning on entire chuck with vacuum clamping 4. Sample holder: Mount for DataRay BladeCam2

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 1 semaine

Plus de cet acheteur

Profil complet de l'acheteur

25 marchés ouverts actuellement

Qui remporte habituellement les marchés de cet acheteur dans ce secteur

Entreprise Attributions Montant total attribué Dernière attribution
AB SCIEX GERMANY GmbH 1 n/d juil. 2026
Active Fiber Systems GmbH 1 n/d juin 2026
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH 1 n/d juin 2026
Cytiva Europe GmbH 1 n/d mars 2026
Form+Test Seidner & Co. GmbH 1 n/d sept. 2026

Sur la base de 13 attributions avec un profil d'entreprise associé au cours des 5 dernières années.

Marchés similaires

Contexte de marché

Appel ouvert moyen · Équipements de laboratoire & de précision
5 515 565 €
1 972 ouverts en Europe actuellement
Historique de l'acheteur sur Aperlena
133 avis suivis · 66 attribués

Ne manquez plus aucun marché comme celui-ci

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