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Deutschland - Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke - Inline XPS/XRF (IPMS-CNT03.1) - PR930836-2480-P

Vergeben Vergabebekanntmachung

Eckdaten

Zuschlagsempfänger
SPECS Surface Nano Analysis GmbH
Auftraggeber
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Ort
Deutschland Dresden
Verfahren
Verhandlungsverfahren Der Auftraggeber wählt Bewerber aus und verhandelt dann über die Angebote, bevor er entscheidet. Ganzer Eintrag Oberhalb des EU-Schwellenwerts Ein Auftrag, der groß genug ist, dass EU-weite Regeln gelten und er auf TED erscheinen muss. Ganzer Eintrag
CPV-Code Das EU-weite Vokabular für den Beschaffungsgegenstand: ein achtstelliger Code in jeder Bekanntmachung. Ganzer Eintrag
42990000 Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Originalsprache
Deutsch
Quelle
über TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), geprüft vor 1 Monat
Bekanntmachungsnummer
851858-2025
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Die Angebotsfrist ist vorbei. Ein Zuschlag oder eine Berichtigung zu dieser Bekanntmachung: eine E-Mail, wenn das Register es sieht. Anmelden

  1. Veröffentlicht
  2. Vergeben ausstehend

Beschreibung

Inline XPS/XRF (IPMS-CNT03.1) 1 Stück Inline XPS/XRF Ein Ultrahochvakuum-Röntgenphotoelektronenspektrometer, das mit einer monochromatischen Röntgenquelle, Sputter- und winkelaufgelöster XPS und Ladungskompensation ausgestattet ist. Dieses Röntgen-Photoelektronenspektrometer wird zur Charakterisierung von dünnen Filmen und Multilayern durch Analyse der Zusammensetzung und Stöchiometrie auf Silizium-Wafern mit einem Durchmesser von 300 und 200 mm verwendet. Dieses Röntgen-Photoelektronenspektrometer wird in-line im Reinraum eingesetzt. Optionale Leistungspositionen: 20.1 Gewährleistungsverlängerung Verlängerung der Gewährleistungszzeit um weitere 12 Monate. ja / nein; Bitte als Option angeben 20.2 Zusätzlicher Röntgenstrahler Monochromated CrKα ja / nein; Bitte als Option angeben 20.3 Zusätzlicher Röntgenstrahler Monochromated AgLα ja / nein; Bitte als Option angeben 20.4 Zusätzliche Sputterquelle Argon-Cluster-Ionenquelle mit abstimmbarer Clustergröße ja / nein; Bitte als Option angeben 20.5 Ultraviolettquelle He I / He II Ultraviolettquelle zur Durchführung von Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS) ja / nein; Bitte geben Sie als Option an 20.6 Elektronenmikroskopie Raster-Auger-Mikroskopie (SAM) / Raster-Elektronenmikroskopie (SEM) mit abstimmbarem Energiebereich und einer Auflösung < 2 µm. ja / nein; Bitte als Option angeben 20.7 Streuspektroskopie Niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEISS) für ultra-oberflächenempfindliche Analysen. ja / nein; Bitte als Option angeben

Amtliche Quelle

Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.

Zuletzt mit TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) abgeglichen vor 1 Monat

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