Aller au contenu
Aperlena
Alertes gratuites

Deutschland - Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke - Inline XPS/XRF (IPMS-CNT03.1) - PR930836-2480-P

Attribué Avis d'attribution

Informations clés

Attributaire
SPECS Surface Nano Analysis GmbH
Acheteur public
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Lieu
Allemagne Dresden
Procédure
Procédure négociée L'acheteur sélectionne des candidats, puis négocie les offres avant de choisir. Entrée complète Au-dessus du seuil européen Un marché assez important pour que les règles européennes s'appliquent et qu'il paraisse sur TED. Entrée complète
Code CPV Le vocabulaire commun de l'UE pour ce qui est acheté : un code à huit chiffres présent dans chaque avis. Entrée complète
42990000 Machines diverses à usage spécifique
Langue d'origine
Allemand
Source
via TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), vérifié il y a 1 mois
Numéro de l'avis
851858-2025
Suivre ce marché

Les offres sont closes. Une attribution ou un rectificatif sur cet avis : un e-mail quand le registre le voit. Se connecter

  1. Publié
  2. Attribué en attente

Description

Inline XPS/XRF (IPMS-CNT03.1) 1 Stück Inline XPS/XRF Ein Ultrahochvakuum-Röntgenphotoelektronenspektrometer, das mit einer monochromatischen Röntgenquelle, Sputter- und winkelaufgelöster XPS und Ladungskompensation ausgestattet ist. Dieses Röntgen-Photoelektronenspektrometer wird zur Charakterisierung von dünnen Filmen und Multilayern durch Analyse der Zusammensetzung und Stöchiometrie auf Silizium-Wafern mit einem Durchmesser von 300 und 200 mm verwendet. Dieses Röntgen-Photoelektronenspektrometer wird in-line im Reinraum eingesetzt. Optionale Leistungspositionen: 20.1 Gewährleistungsverlängerung Verlängerung der Gewährleistungszzeit um weitere 12 Monate. ja / nein; Bitte als Option angeben 20.2 Zusätzlicher Röntgenstrahler Monochromated CrKα ja / nein; Bitte als Option angeben 20.3 Zusätzlicher Röntgenstrahler Monochromated AgLα ja / nein; Bitte als Option angeben 20.4 Zusätzliche Sputterquelle Argon-Cluster-Ionenquelle mit abstimmbarer Clustergröße ja / nein; Bitte als Option angeben 20.5 Ultraviolettquelle He I / He II Ultraviolettquelle zur Durchführung von Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS) ja / nein; Bitte geben Sie als Option an 20.6 Elektronenmikroskopie Raster-Auger-Mikroskopie (SAM) / Raster-Elektronenmikroskopie (SEM) mit abstimmbarem Energiebereich und einer Auflösung < 2 µm. ja / nein; Bitte als Option angeben 20.7 Streuspektroskopie Niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEISS) für ultra-oberflächenempfindliche Analysen. ja / nein; Bitte als Option angeben

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 1 mois

Consulter l'avis officiel

Plus de cet acheteur

Profil complet de l'acheteur

87 marchés ouverts actuellement

Attributions récentes

Historique des modifications

Chaque republication de cet avis par une source officielle avec un contenu différent. Nous surveillons toutes les sources que nous indexons, y compris les copies régionales du même avis.

  1. A lire avant de repondre
    • Objet et critères: La description a été étoffée. À relire avant de repondre.

Suivez ce marche et nous vous ecrivons dès qu'il change. Créer un compte

Marchés similaires

Contexte de marché

Appel ouvert moyen · Machines industrielles
1 973 082 €
2 316 ouverts en Europe actuellement
Historique de l'acheteur sur Aperlena
385 avis suivis · 181 attribués
651 275 € de contrats attribués

Ne manquez plus aucun marché comme celui-ci

38 nouveaux avis pour Machines industrielles en Allemagne au cours des 7 derniers jours. Recevez un e-mail quand de nouveaux avis paraissent. Gratuit.

Créer mon alerte
Ouvrir l'avis

Raccourcis clavier

Parcourir une liste sans toucher la souris. Les raccourcis restent inactifs pendant la saisie dans un champ.

j
Résultat suivant
k
Résultat précédent
Entrée
Ouvrir le résultat
n
Page suivante
p
Page précédente
c
Comparer ce résultat
s
Ajouter ce résultat à la présélection
/
Rechercher depuis n’importe quelle page
Ctrl K
Rechercher depuis n’importe quelle page
?
Afficher ces raccourcis
Échap
Fermer

Partir d'une question

Parcourir par secteur

Sommaire

Fermer
Se connecter

Langue