Przejdź do treści
Aperlena
Język:

Niemcy - Urządzenia do pomiaru powierzchni - nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

Oryginał Deutschland - Oberflächen-Messgeräte - nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

Otwarty Ogłoszenie o zamówieniu Nie opublikowano terminu
Obserwuj ten przetarg

Napiszemy, jeśli zmieni się termin lub pojawi się sprostowanie. Za darmo. Zaloguj się

Werdykt Aperlena

Otwarty wyścig

Żaden wykonawca nie dominuje: 11 różnych firm wygrało ostatnie 14 porównywalne zamówienia tego zamawiającego w ciągu 5 lat. To naprawdę otwarty wyścig.

Na podstawie 14 porównywalnych rozstrzygnięć tego zamawiającego w tej branży w ciągu 5 lat. Każdy werdykt jest zapisywany przed wynikiem i oceniany względem ogłoszenia o udzieleniu zamówienia. Jak się oceniamy.

Streszczenie

Streszczenie wygenerowane automatycznie

Instytut Fraunhofer ds. Mikrostruktury Materiałów i Systemów IMWS w Niemczech zamawia jedno urządzenie inspekcyjne nano-XCT, czyli system mikroskopii rentgenowskiej (XRM) najnowszej generacji do nieniszczącego wykrywania i oceny odchyleń strukturalnych, błędów styków i uszkodzeń w komponentach elektronicznych, w tym urządzeniach QMI oraz 2.5/3D. Przedmiotem jest dostawa kompletnego, sprawnego systemu wraz z montażem, uruchomieniem, wszystkimi wymaganymi przyłączami i dopuszczeniami. Urządzenie powinno obsługiwać różne materiały targetu, optyki i technologie detektorów, opcjonalnie z drugim źródłem promieniowania rentgenowskiego. Do postępowania mogą przystąpić dostawcy systemów XRM.

Opis

nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) 1 Stück nano-XCT inspection tool Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, die Sicherheit und die Lebensdauer innovativer Materialien in Bauteilen und Systemen. Der Geschäftsbereich "Elektronische Materialien und Komponenten" des Fraunhofer IMWS unterstützt Industrie- und Forschungspartner mit seiner international anerkannten Expertise auf dem Gebiet der Fehleranalysen an elektronischen Bauelementen. Das Fraunhofer IMWS wird seine Kompetenzen im Bereich der fortgeschrittenen Fehleranalyse und Materialcharakterisierung ausbauen, um den Hochlauf neuer Technologien zur heterogenen Integration zu unterstützen und dabei die Herausforderungen hinsichtlich Fertigung und Zuverlässigkeit zu bewältigen. Um die zerstörungsfreie Detektion und Bewertung von Strukturabweichungen, Kontaktfehlern und Schadensmerkmalen sowie deren möglichst präzise Lokalisierung innerhalb des Packages zu ermöglichen - und somit die Grundlage für weiterführende hochauflösende physikalische Diagnostiken zu schaffen -, ist der Einsatz von Systemen der neuesten Generation der Röntgenmikroskopie (XRM) erforderlich. Das Gerät sollte die Möglichkeit bieten, verschiedene Targetmaterialien in Kombination mit Mikroskopoptiken und unterschiedlichen Detektortechnologien einzusetzen, um die submikroskopische Struktur sowie die heterogenen Materialkombinationen von QMI- und 2.5/3D-Bauelementen auflösen zu können. Die Option zur Erweiterung um bzw. Nutzung einer zweiten Röntgenquelle zur Bildgebung von Materialien mit geringer Absorption wäre eine sinnvolle Ergänzung, um heterogene Materialkombinationen bei hohem Probendurchsatz und gleichzeitig bestmöglicher Detail- und Kontrastauflösung analysieren zu können. Gegenstand dieser Ausschreibung ist die Lieferung eines funktionsfähigen Komplettsystems, einschließlich Montage, Inbetriebnahme sowie aller erforderlichen Anschlüsse, Zulassungen/Zertifizierungen und der für den Betrieb notwendigen Software. Die Anforderungen an ein hochmodernes Präzisions-Röntgenmikroskop für hochintegrierte 2.5/3D-Bauelemente sind im Folgenden beschrieben Optionen: 1.6.3. Scanning-Beugungskontrasttomographie Bildgebungsverfahren zur Darstellung und Analyse kristallographischer Korndaten mittels Röntgenbeugung. 1.7.2. Software "Software/Steuerung" Software oder zusätzliche Softwaremodule zur Optimierung von Messprozessen (hinsichtlich Durchsatz, Ergebnisqualität usw.) und zur Optimierung von Messdatensätzen (Artefaktreduktion, Volumenrekonstruktion, Analysewerkzeuge usw.). Möglichkeit zum Zugriff auf Geräteeinstellungen zur individuellen Anpassung von Messroutinen, zur Triggereinstellung über externe Schnittstellen und zur Auswertung von Gerätedaten.

Oficjalne źródło

Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Ostatnia weryfikacja w TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 miesiąc temu

Zobacz oficjalne ogłoszenie

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

87 otwartych przetargów w tej chwili

Kto zwykle wygrywa zamówienia tego zamawiającego w tej branży

Firma Wygrane Łączna wartość udzielonych zamówień Ostatnia wygrana
ATV Systems GmbH 2 b/d wrz 2026
JP Kummer Semiconductor Technology GmbH 2 b/d cze 2026
Keysight Technologies 2 b/d cze 2026
Accretech 1 b/d lip 2026
Baker Hughes Digital Solutions GmbH 1 b/d cze 2026

Na podstawie 14 zamówień z powiązanym profilem firmy z ostatnich 5 lat.

Historia zmian

Każdy przypadek ponownej publikacji tego ogłoszenia przez oficjalne źródło ze zmieniona treścią. Monitorujemy wszystkie źródła, które indeksujemy, w tym regionalne kopie tego samego ogłoszenia.

  1. Przeczytaj przed złożeniem oferty
    • Przedmiot i kryteria: Opis został rozszerzony. Przeczytaj ponownie przed złożeniem oferty.

Obserwuj ten przetarg, a napiszemy do Ciebie, gdy tylko się zmieni. Załóż konto

Podobne przetargi

Kontekst rynkowy

Śr. otwarty przetarg · Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny
5 436 762 €
2 032 otwartych teraz w Europie
Historia zamawiającego w Aperlena
385 zarejestrowanych ogłoszeń · 181 udzielonych
651 275 € w udzielonych zamówieniach

Nie przegap przetargów takich jak ten

64 nowych ogłoszeń w ostatnich 7 dniach: Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny, Niemcy. Otrzymuj e-mail, gdy pojawią się nowe ogłoszenia. Za darmo.

Ustaw mój alert
Źródło

Skróty klawiszowe

Przeglądaj listę bez sięgania po mysz. Skróty nie działają podczas pisania w polu.

j
Następny wynik
k
Poprzedni wynik
Enter
Otwórz wynik
n
Następna strona
p
Poprzednia strona
c
Porównaj ten wynik
s
Dodaj ten wynik do krótkiej listy
/
Przejdź do pola wyszukiwania
?
Pokaż te skróty
Esc
Zamknij