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Allemagne - Instruments de mesure de surface - nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

Original Deutschland - Oberflächen-Messgeräte - nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

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Le Verdict Aperlena

Course ouverte

Aucun fournisseur ne domine : 11 entreprises différentes ont remporté les 14 derniers marchés comparables de cet acheteur en 5 ans. Une course réellement ouverte.

Sur la base de 14 attributions comparables de cet acheteur dans ce secteur sur 5 ans. Chaque verdict est consigné avant le résultat et confronté à l'avis d'attribution. Comment nous nous notons.

Résumé

Résumé généré automatiquement

L'Institut Fraunhofer pour la microstructure des matériaux et des systèmes IMWS, en Allemagne, acquiert un outil d'inspection nano-XCT, un système de microscopie à rayons X (XRM) de dernière génération permettant la détection et l'évaluation non destructives des écarts structurels, défauts de contact et dommages dans les composants électroniques, y compris les dispositifs QMI et 2.5/3D. L'objet comprend la livraison d'un système complet fonctionnel, avec montage, mise en service, raccordements et homologations nécessaires. L'appareil doit prendre en charge divers matériaux de cible, optiques et technologies de détecteurs, avec option d'une seconde source de rayons X. Ni valeur estimée ni date limite n'indiquées. Les fournisseurs de systèmes XRM peuvent soumissionner.

Description

nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) 1 Stück nano-XCT inspection tool Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, die Sicherheit und die Lebensdauer innovativer Materialien in Bauteilen und Systemen. Der Geschäftsbereich "Elektronische Materialien und Komponenten" des Fraunhofer IMWS unterstützt Industrie- und Forschungspartner mit seiner international anerkannten Expertise auf dem Gebiet der Fehleranalysen an elektronischen Bauelementen. Das Fraunhofer IMWS wird seine Kompetenzen im Bereich der fortgeschrittenen Fehleranalyse und Materialcharakterisierung ausbauen, um den Hochlauf neuer Technologien zur heterogenen Integration zu unterstützen und dabei die Herausforderungen hinsichtlich Fertigung und Zuverlässigkeit zu bewältigen. Um die zerstörungsfreie Detektion und Bewertung von Strukturabweichungen, Kontaktfehlern und Schadensmerkmalen sowie deren möglichst präzise Lokalisierung innerhalb des Packages zu ermöglichen - und somit die Grundlage für weiterführende hochauflösende physikalische Diagnostiken zu schaffen -, ist der Einsatz von Systemen der neuesten Generation der Röntgenmikroskopie (XRM) erforderlich. Das Gerät sollte die Möglichkeit bieten, verschiedene Targetmaterialien in Kombination mit Mikroskopoptiken und unterschiedlichen Detektortechnologien einzusetzen, um die submikroskopische Struktur sowie die heterogenen Materialkombinationen von QMI- und 2.5/3D-Bauelementen auflösen zu können. Die Option zur Erweiterung um bzw. Nutzung einer zweiten Röntgenquelle zur Bildgebung von Materialien mit geringer Absorption wäre eine sinnvolle Ergänzung, um heterogene Materialkombinationen bei hohem Probendurchsatz und gleichzeitig bestmöglicher Detail- und Kontrastauflösung analysieren zu können. Gegenstand dieser Ausschreibung ist die Lieferung eines funktionsfähigen Komplettsystems, einschließlich Montage, Inbetriebnahme sowie aller erforderlichen Anschlüsse, Zulassungen/Zertifizierungen und der für den Betrieb notwendigen Software. Die Anforderungen an ein hochmodernes Präzisions-Röntgenmikroskop für hochintegrierte 2.5/3D-Bauelemente sind im Folgenden beschrieben Optionen: 1.6.3. Scanning-Beugungskontrasttomographie Bildgebungsverfahren zur Darstellung und Analyse kristallographischer Korndaten mittels Röntgenbeugung. 1.7.2. Software "Software/Steuerung" Software oder zusätzliche Softwaremodule zur Optimierung von Messprozessen (hinsichtlich Durchsatz, Ergebnisqualität usw.) und zur Optimierung von Messdatensätzen (Artefaktreduktion, Volumenrekonstruktion, Analysewerkzeuge usw.). Möglichkeit zum Zugriff auf Geräteeinstellungen zur individuellen Anpassung von Messroutinen, zur Triggereinstellung über externe Schnittstellen und zur Auswertung von Gerätedaten.

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 1 mois

Plus de cet acheteur

Profil complet de l'acheteur

87 marchés ouverts actuellement

Qui remporte habituellement les marchés de cet acheteur dans ce secteur

Entreprise Attributions Montant total attribué Dernière attribution
ATV Systems GmbH 2 n/d sept. 2026
JP Kummer Semiconductor Technology GmbH 2 n/d juin 2026
Keysight Technologies 2 n/d juin 2026
Accretech 1 n/d juil. 2026
Baker Hughes Digital Solutions GmbH 1 n/d juin 2026

Sur la base de 14 attributions avec un profil d'entreprise associé au cours des 5 dernières années.

Historique des modifications

Chaque republication de cet avis par une source officielle avec un contenu différent. Nous surveillons toutes les sources que nous indexons, y compris les copies régionales du même avis.

  1. A lire avant de repondre
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