Saltar al contenido
Aperlena

Alemania - Instrumentos de medición de superficies - nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

Original Deutschland - Oberflächen-Messgeräte - nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

Abierta Anuncio de licitación Sin fecha límite publicada
Vigilar esta licitación

Te escribimos si cambia el plazo o se publica una corrección. Gratis. Iniciar sesión

El Veredicto Aperlena

Carrera abierta

Ningún proveedor domina: 11 empresas distintas se han llevado los últimos 14 contratos comparables de este comprador en 5 años. Es una carrera realmente abierta.

Basado en 14 adjudicaciones comparables de este comprador en este sector durante 5 años. Cada veredicto se registra antes del resultado y se contrasta con el anuncio de adjudicación. Cómo nos puntuamos.

Resumen

Resumen generado automáticamente

El Instituto Fraunhofer de Microestructura de Materiales y Sistemas IMWS, en Alemania, adquiere una herramienta de inspección nano-XCT, un sistema de microscopía de rayos X (XRM) de última generación para la detección y evaluación no destructiva de desviaciones estructurales, fallos de contacto y daños en componentes electrónicos, incluidos dispositivos QMI y 2.5/3D. El objeto incluye la entrega de un sistema completo funcional, con montaje, puesta en marcha, conexiones y homologaciones necesarias. El equipo debe admitir diversos materiales de blanco, ópticas y tecnologías de detectores, con opción de una segunda fuente de rayos X. Pueden ofertar proveedores de sistemas XRM.

Descripción

nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) 1 Stück nano-XCT inspection tool Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, die Sicherheit und die Lebensdauer innovativer Materialien in Bauteilen und Systemen. Der Geschäftsbereich "Elektronische Materialien und Komponenten" des Fraunhofer IMWS unterstützt Industrie- und Forschungspartner mit seiner international anerkannten Expertise auf dem Gebiet der Fehleranalysen an elektronischen Bauelementen. Das Fraunhofer IMWS wird seine Kompetenzen im Bereich der fortgeschrittenen Fehleranalyse und Materialcharakterisierung ausbauen, um den Hochlauf neuer Technologien zur heterogenen Integration zu unterstützen und dabei die Herausforderungen hinsichtlich Fertigung und Zuverlässigkeit zu bewältigen. Um die zerstörungsfreie Detektion und Bewertung von Strukturabweichungen, Kontaktfehlern und Schadensmerkmalen sowie deren möglichst präzise Lokalisierung innerhalb des Packages zu ermöglichen - und somit die Grundlage für weiterführende hochauflösende physikalische Diagnostiken zu schaffen -, ist der Einsatz von Systemen der neuesten Generation der Röntgenmikroskopie (XRM) erforderlich. Das Gerät sollte die Möglichkeit bieten, verschiedene Targetmaterialien in Kombination mit Mikroskopoptiken und unterschiedlichen Detektortechnologien einzusetzen, um die submikroskopische Struktur sowie die heterogenen Materialkombinationen von QMI- und 2.5/3D-Bauelementen auflösen zu können. Die Option zur Erweiterung um bzw. Nutzung einer zweiten Röntgenquelle zur Bildgebung von Materialien mit geringer Absorption wäre eine sinnvolle Ergänzung, um heterogene Materialkombinationen bei hohem Probendurchsatz und gleichzeitig bestmöglicher Detail- und Kontrastauflösung analysieren zu können. Gegenstand dieser Ausschreibung ist die Lieferung eines funktionsfähigen Komplettsystems, einschließlich Montage, Inbetriebnahme sowie aller erforderlichen Anschlüsse, Zulassungen/Zertifizierungen und der für den Betrieb notwendigen Software. Die Anforderungen an ein hochmodernes Präzisions-Röntgenmikroskop für hochintegrierte 2.5/3D-Bauelemente sind im Folgenden beschrieben Optionen: 1.6.3. Scanning-Beugungskontrasttomographie Bildgebungsverfahren zur Darstellung und Analyse kristallographischer Korndaten mittels Röntgenbeugung. 1.7.2. Software "Software/Steuerung" Software oder zusätzliche Softwaremodule zur Optimierung von Messprozessen (hinsichtlich Durchsatz, Ergebnisqualität usw.) und zur Optimierung von Messdatensätzen (Artefaktreduktion, Volumenrekonstruktion, Analysewerkzeuge usw.). Möglichkeit zum Zugriff auf Geräteeinstellungen zur individuellen Anpassung von Messroutinen, zur Triggereinstellung über externe Schnittstellen und zur Auswertung von Gerätedaten.

Fuente oficial

Fuente: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica siempre los detalles en el anuncio oficial.

Última verificación con TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) hace 1 mes

Más de este comprador

Perfil completo del comprador

87 licitaciones abiertas ahora mismo

Quién suele ganar los contratos de este comprador en este sector

Empresa Adjudicaciones Importe total adjudicado Última adjudicación
ATV Systems GmbH 2 n/d sep. 2026
JP Kummer Semiconductor Technology GmbH 2 n/d jun. 2026
Keysight Technologies 2 n/d jun. 2026
Accretech 1 n/d jul. 2026
Baker Hughes Digital Solutions GmbH 1 n/d jun. 2026

A partir de 14 adjudicaciones con perfil de empresa vinculado en los últimos 5 años.

Historial de cambios

Cada vez que una fuente oficial ha vuelto a publicar este anuncio con contenido distinto. Vigilamos todas las fuentes que indexamos, incluidas las copias regionales del mismo anuncio.

  1. Léelo antes de presentarte
    • Objeto y criterios: Se ha ampliado la descripción. Reléela antes de presentarte.

Sigue esta licitación y te escribimos en cuanto cambie. Crear cuenta

Licitaciones similares

Contexto de mercado

Licitación abierta media · Equipos de laboratorio y precisión
5.537.866 €
2.042 abiertas ahora en Europa
Historial del comprador en Aperlena
385 anuncios registrados · 181 adjudicados
651.275 € en contratos adjudicados

No te pierdas ninguna licitación como esta

63 anuncios nuevos de Equipos de laboratorio y precisión en Alemania en los últimos 7 días. Recibe un email cuando aparezcan anuncios nuevos. Gratis.

Crear mi alerta

Atajos de teclado

Recorre una lista sin tocar el ratón. Los atajos no actúan mientras escribes en un campo.

j
Resultado siguiente
k
Resultado anterior
Intro
Abrir el resultado
n
Página siguiente
p
Página anterior
c
Comparar este resultado
s
Añadir este resultado a la lista corta
/
Ir al cuadro de búsqueda
?
Mostrar estos atajos
Esc
Cerrar