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Allemagne - Instruments de mesure de surface - Système nano-XCT haute résolution

Original Deutschland - Oberflächen-Messgeräte - High resolution nano-XCT system

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L'institut Fraunhofer pour la microstructure des matériaux et des systèmes IMWS en Allemagne acquiert un système nano-XCT haute résolution, un outil de radiographie (2D) et de tomographie à rayons X (3D-CT) de dernière génération pour l'analyse non destructive des défauts de composants électroniques 2,5D/3D hautement intégrés. La fourniture comprend un appareil complet et fonctionnel avec montage, mise en service, raccordements, agréments, certifications, logiciel d'exploitation et une station de travail multiprocesseur performante pour le post-traitement des données d'imagerie. Valeur, délais et procédure ne sont pas précisés dans l'avis.

Description

The Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems IMWS researches the application behaviour, reliability, safety and lifetime of innovative materials in components and systems. The Business Unit “Electronic Materials and Components” Fraunhofer IMWS support industry and research partners by its internationally recognized expertise in failure analyses of electronic components. Fraunhofer IMWS will enhance its capabilities for advanced failure analysis and material characterization to support the ramp up of new heterogenous integration technologies addressing the manufacturing and reliability challenges. To enable the non-destructive detection and evaluation of structural deviations, contact defects, damage characteristics and their most precise possible localization in the package to enable further high-resolution physical diagnostics, the latest generation of radiography (2D) and X-ray tomography (3D-CT) systems are required in particular for the non-destructive detection and evaluation of structural deviations, contact defects, damage characteristics and their most precise possible localization in the package to enable further high-resolution physical diagnostics. A high-performance multi-processor workstation is required for postprocessing of the generated imaging data sets to identify tiny deviations and defects within the devices. This tender is for the supply a functional complete device including assembly, commissioning and all necessary connections, approvals/certifications and software for operation. The requirements for a state-of-the-art x-ray inspection tool for highly integrated 2.5/3D components are described below:

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 1 mois

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