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Germania - Strumenti di misura delle superfici - Sistema nano-XCT ad alta risoluzione

Originale Deutschland - Oberflächen-Messgeräte - High resolution nano-XCT system

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  1. Pubblicata
  2. Scadenza aperta 30 giorni
  3. Aggiudicata in attesa

Sintesi

Sintesi generata automaticamente

L'Istituto Fraunhofer per la microstruttura dei materiali e dei sistemi IMWS in Germania acquista un sistema nano-XCT ad alta risoluzione, uno strumento di radiografia (2D) e tomografia a raggi X (3D-CT) di ultima generazione per l'analisi non distruttiva dei difetti di componenti elettronici 2.5D/3D ad alta integrazione. La fornitura comprende un dispositivo completo e funzionante con montaggio, messa in servizio, collegamenti, omologazioni, certificazioni, software di gestione e una potente workstation multiprocessore per la post-elaborazione dei dati di imaging. Valore, scadenze e procedura non sono indicati nell'avviso.

Descrizione

The Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems IMWS researches the application behaviour, reliability, safety and lifetime of innovative materials in components and systems. The Business Unit “Electronic Materials and Components” Fraunhofer IMWS support industry and research partners by its internationally recognized expertise in failure analyses of electronic components. Fraunhofer IMWS will enhance its capabilities for advanced failure analysis and material characterization to support the ramp up of new heterogenous integration technologies addressing the manufacturing and reliability challenges. To enable the non-destructive detection and evaluation of structural deviations, contact defects, damage characteristics and their most precise possible localization in the package to enable further high-resolution physical diagnostics, the latest generation of radiography (2D) and X-ray tomography (3D-CT) systems are required in particular for the non-destructive detection and evaluation of structural deviations, contact defects, damage characteristics and their most precise possible localization in the package to enable further high-resolution physical diagnostics. A high-performance multi-processor workstation is required for postprocessing of the generated imaging data sets to identify tiny deviations and defects within the devices. This tender is for the supply a functional complete device including assembly, commissioning and all necessary connections, approvals/certifications and software for operation. The requirements for a state-of-the-art x-ray inspection tool for highly integrated 2.5/3D components are described below:

Fonte ufficiale

Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica sempre i dettagli nell'avviso ufficiale.

Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 mese fa

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  1. Leggi prima di partecipare
    • Titolo: "Deutschland - Oberflächen-Messgeräte - High resolution nano-XCT system" a "Deutschland – Oberflächen-Messgeräte – High resolution nano-XCT system"
    • Termine di presentazione: Prorogato di 1 giorno: ora 4 settembre 2026, 10:00

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