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Allemagne - Machines, équipements et articles électriques; éclairage - Système de test SOC - PR1251693-2270-W

Original Deutschland - Elektrische Maschinen, Geräte, Ausstattung und Verbrauchsartikel; Beleuchtung - SOC-Testsystem - PR1251693-2270-W

Clôturé Avis de marché

Informations clés

Clôturé
Acheteur public
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Lieu
Allemagne Oberpfalz
Procédure
Procédure ouverte Toute entreprise peut remettre une offre, en une seule étape, sans présélection. Entrée complète Au-dessus du seuil européen Un marché assez important pour que les règles européennes s'appliquent et qu'il paraisse sur TED. Entrée complète
Code CPV Le vocabulaire commun de l'UE pour ce qui est acheté : un code à huit chiffres présent dans chaque avis. Entrée complète
31000000 Machines, appareils, équipements et consommables électriques; éclairage
Langue d'origine
Allemand
Source
via TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), vérifié il y a 6 jours
Numéro de l'avis
640283-2026
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  1. Publié
  2. Date limite ouvert 12 jours
  3. Attribué en attente

Résumé

Résumé généré automatiquement

Le Fraunhofer EMFT acquiert un système de test de semi-conducteurs, à savoir un système de test à signaux mixtes, destiné à la vérification post-silicium, à la caractérisation et aux tests fonctionnels de circuits intégrés et de chiplets. Le système doit fournir des interfaces permettant la connexion à un système industriel standard de probe de wafer ainsi qu'à un système industriel standard de manipulation de composants. En outre, le système de test doit être compatible, au niveau matériel et logiciel, avec un système de test Advantest V93000 déjà présent au sein de la Fraunhofer-Gesellschaft. La spécification décrit les exigences techniques correspondantes.

Description

SOC-Testsystem This specification describes the requirements for a semiconductor test system (mixed-signal test system) to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The test system must provide interfaces that allow connection with an industrial standard wafer probing system as well as with an industrial standard device handling system. The test system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft.

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

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Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 6 jours

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