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Alemania - Máquinas, aparatos, equipo y artículos eléctricos; iluminación - Sistema de pruebas SOC - PR1251693-2270-W

Original Deutschland - Elektrische Maschinen, Geräte, Ausstattung und Verbrauchsartikel; Beleuchtung - SOC-Testsystem - PR1251693-2270-W

Cerrada Anuncio de licitación

Datos clave

Cerrada
Órgano de contratación
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Dónde
Alemania Oberpfalz
Procedimiento
Procedimiento abierto Cualquier empresa puede presentar oferta, en un solo paso, sin preselección. Entrada completa Por encima del umbral europeo Un contrato lo bastante grande para que se apliquen las normas europeas y deba publicarse en TED. Entrada completa
Código CPV El vocabulario común de la UE para lo que se compra: un código de ocho cifras que lleva todo anuncio. Entrada completa
31000000 Máquinas, aparatos, equipo y productos consumibles eléctricos; iluminación
Idioma original
Alemán
Fuente
vía TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), verificado hace 6 días
Número de anuncio
640283-2026
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  1. Publicada
  2. Fecha límite abierta 12 días
  3. Adjudicada pendiente

Resumen

Resumen generado automáticamente

Fraunhofer EMFT adquiere un sistema de pruebas de semiconductores, en concreto un sistema de pruebas de señal mixta, destinado a la verificación post-silicio, la caracterización y las pruebas funcionales de circuitos integrados y chiplets. El sistema debe ofrecer interfaces que permitan la conexión con un sistema estándar industrial de pruebas de obleas y con un sistema estándar industrial de manipulación de dispositivos. Además, el sistema de pruebas debe ser compatible en hardware y software con un sistema de pruebas Advantest V93000 ya existente en la Fraunhofer-Gesellschaft. La especificación describe los requisitos técnicos correspondientes.

Descripción

SOC-Testsystem This specification describes the requirements for a semiconductor test system (mixed-signal test system) to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The test system must provide interfaces that allow connection with an industrial standard wafer probing system as well as with an industrial standard device handling system. The test system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft.

Fuente oficial

Fuente: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica siempre los detalles en el anuncio oficial.

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Última verificación con TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) hace 6 días

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