Sintesi
Sintesi generata automaticamenteFraunhofer EMFT acquista un sistema di test per semiconduttori, precisamente un sistema di test a segnali misti, da utilizzare per la verifica post-silicio, la caratterizzazione e il test funzionale di circuiti integrati e chiplet. Il sistema deve fornire interfacce che consentano il collegamento a un sistema standard industriale di sonde per wafer e a un sistema standard industriale di gestione dei dispositivi. Inoltre, il sistema di test deve essere compatibile a livello hardware e software con un sistema di test Advantest V93000 già presente nella Fraunhofer-Gesellschaft. La specifica descrive i requisiti tecnici corrispondenti.
Descrizione
Fonte ufficiale
Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)
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Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 6 giorni fa
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