Skip to content
Aperlena

Romania - Diffractometers - X-ray diffraction equipment

Original România - Aparate de difracţie - Echipament de difractie cu raze X

Open Contract notice 2 days left
Watch this tender

Deadline 23 Sep. If it moves, an email when the register sees it. A correction: the same email. Log in

  1. Published
  2. Today
  3. Deadline open for 36 days
  4. Awarded pending

Summary

Machine-generated summary

The buyer is procuring an X-ray diffraction (XRD) instrument for research and development and for characterising materials used in microelectronics and microsystems. The equipment must allow non-destructive analysis of a wide range of materials (thin films, powders, nanostructures, liquid suspensions, membranes) to determine crystalline structure and microstructural parameters, supporting phase identification, Rietveld refinement, reflectivity measurements, reciprocal space mapping and residual stress determination. It will be part of a 'Microfabrication of semiconductor devices' prototyping line under the PNTS project, the 'National Semiconductor Technologies Platform', in Romania. Requirements include high-resolution measurements, flexible experimental configurations, detection systems, analysis software and safe operation mechanisms. The estimated value, submission deadline and procedure details are not stated in the available description.

Description

Echipament de difractie cu raze X (XRD) pentru aplicații în cercetare-dezvoltare și caracterizarea materialelor utilizate în domeniul microelectronicii și al microsistemelor. Echipamentul trebuie să permită analiza nedistructivă a unei game variate de materiale (filme subțiri, pulberi, structuri nanometrice), în vederea determinării structurii cristaline și a parametrilor microstructurali, fiind destinat aplicațiilor avansate de analiză structurală și optimizare a proceselor tehnologice. Echipament de difractie cu raze X, destinat caracterizării nedistructive a materialelor sintetizate, în vederea determinării structurii cristaline și a parametrilor microstructurali. Acesta va permite analiza unei game largi de materiale (filme subțiri, pulberi, suspensii lichide, membrane), fiind utilizat pentru aplicații precum identificarea și analiza fazelor, rafinare Rietveld, analiză microstructurală, măsurători de reflectivitate, mapare în spațiul reciproc și determinarea stresului rezidual. Echipamentul va face parte dintr-o linie de prototipare de tip „Microfabricarea dispozitivelor semiconductoare”, în cadrul Proiectului PNTS - „Platforma Națională de Tehnologii Semiconductoare”. Echipamentul trebuie să asigure măsurători de înaltă rezoluție, flexibilitate în configurarea experimentală și să fie prevăzut cu sisteme de detecție, software de analiză și mecanisme de operare în condiții de siguranță.

Official source

Source: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Always verify details on the official notice.

Last verified against TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 3 weeks ago

More from this buyer

Full buyer profile

Who usually wins this buyer's contracts in this sector

Company Wins Total awarded Last win
JEOL (EUROPE) SAS 1 €2.1M Feb 2026
APEL LASER 1 €413,255 May 2026

Based on 2 awards with a linked company profile over the last 5 years.

Similar tenders

Market context

Avg. open tender · Laboratory & precision equipment
€5,546,123
2,276 open across Europe right now 86% below sector average
Buyer track record on Aperlena
11 notices tracked · 4 awarded
€3,594,473 in awarded contracts

Never miss a tender like this

35 new notices in Laboratory & precision equipment in Romania in the last 7 days. Get an email when new ones appear. Free.

Set up my alert

Keyboard shortcuts

Read a list without reaching for the mouse. The shortcuts stay quiet while you type in a field.

j
Next result
k
Previous result
Enter
Open the result
n
Next page
p
Previous page
c
Compare this result
s
Shortlist this result
/
Jump to the search box
?
Show these shortcuts
Esc
Close