Przejdź do treści
Aperlena
Język:

Niemcy - Elektroniczne przyrządy pomiarowe - Stacja sond RF (EMFT-06.3) - PR1004509-2270-P

Oryginał Deutschland - Elektronische Messgeräte - RF Probe Station (EMFT-06.3) - PR1004509-2270-P

Udzielony Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia Nie opublikowano terminu
Obserwuj ten przetarg

Składanie ofert zakończone. Udzielenie zamówienia lub sprostowanie tego ogłoszenia: e-mail, gdy rejestr to zobaczy. Zaloguj się

  1. Opublikowano
  2. Udzielony oczekuje

Streszczenie

Streszczenie wygenerowane automatycznie

Fraunhofer-Gesellschaft, dział zakupów B12, zawarła kontrakt na automatyczną stację sond RF. Stacja służy do pomiarów na chipach, waferach i uchwytach próbek do badań materiałów. Musi być ogólnie odpowiednia dla sond częstotliwościowych mmWave i SubTHz, obsługiwać co najmniej cztery przedłużacze częstotliwości, aby umożliwić rzeczywistą różnicową charakteryzację urządzenia na urządzeniu 2-portowym bez ponownego podłączania, i obejmować system mikroskopowy oraz kamerę. Chuck ma umożliwiać obrót theta i ruch w osi z; wymagany jest także termiczny system chucka od -40 do 200 stopni Celsjusza, automatyczna kontrola testów i oprogramowanie z interfejsem. Kontrakt otrzymała firma ATV Systems GmbH.

Opis

RF Probe Station (EMFT-06.3) 1 Stück Für die zuvor allgemein beschriebene Messstation wird eine automatisierte Probenstation angeschafft, um diese Messungen auf Chip, Wafer und Probenhaltern für Materialtests durchzuführen. Die Probenstation muss generell für mmWave- und SubTHz-Frequenzsonden geeignet sein. Die wichtigsten Anforderungen sind, dass die Probenstation mindestens vier Frequenzverlängerer tragen kann, sodass eine echte differentielle Gerätecharakterisierung auf einem 2-Port-Gerät ohne erneute Verbindung möglich ist. Darüber hinaus ist ein Mikroskopsystem erforderlich, das für mmWave- und SubTHz-Messungen auf Chip und Wafer geeignet ist, sowie eine Kamera. Der Chuck des Wafer-Probers sollte eine Theta-Drehung und die Bewegung in z-Richtung ermöglichen. Darüber hinaus wird ein thermisches Chuck-System benötigt, das Temperaturen von -40 °C bis 200 °C auf dem zu testenden Gerät gewährleistet. Im Allgemeinen sollte der Wafer-Prober eine automatische Steuerung des Prüfvorgangs und eine Steuerungssoftware mit Benutzeroberfläche bieten.

Oficjalne źródło

Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Ostatnia weryfikacja w TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 tydzień temu

Zobacz oficjalne ogłoszenie

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

86 otwartych przetargów w tej chwili

Ostatnie udzielenia

Podobne przetargi

Kontekst rynkowy

Śr. otwarty przetarg · Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny
5 582 211 €
2 329 otwartych teraz w Europie
Historia zamawiającego w Aperlena
384 zarejestrowanych ogłoszeń · 181 udzielonych
651 275 € w udzielonych zamówieniach

Nie przegap przetargów takich jak ten

63 nowych ogłoszeń w ostatnich 7 dniach: Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny, Niemcy. Otrzymuj e-mail, gdy pojawią się nowe ogłoszenia. Za darmo.

Ustaw mój alert
Źródło

Skróty klawiszowe

Przeglądaj listę bez sięgania po mysz. Skróty nie działają podczas pisania w polu.

j
Następny wynik
k
Poprzedni wynik
Enter
Otwórz wynik
n
Następna strona
p
Poprzednia strona
c
Porównaj ten wynik
s
Dodaj ten wynik do krótkiej listy
/
Przejdź do pola wyszukiwania
?
Pokaż te skróty
Esc
Zamknij