Polska - Aparatura kontrolna i badawcza - Dostawa systemu do badań nano-reologii biomateriałów roślinnych na rzecz Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego PAN w Lublinie

1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa systemu do badań nano-­reologii biomateriałów roślinnych na rzecz Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego PAN w Lublinie. 2. Zakres zamówienia obejmuje dostawę na rzecz Zamawiającego: systemu do badań nano-­reologii biomateriałów roślinnych. Zamawiający wymaga zaoferowania okresu gwarancji na przedmiot zamówienia na minimum 36 miesięcy. Oferty z krótszym okresem gwarancji niż określone powyżej zostaną odrzucone. Uwaga! Okres gwarancji stanowi kryterium oceny ofert zgodnie z rozdziałem XVIII SWZ. 3. Nazwa zamówienia ujęta w tytule zamówienia nie stanowi nazwy własnej producentów/dystrybutorów produktów, lecz jest to oznaczenie wyłącznie pomocnicze zastosowane przez Zamawiającego. 4. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w Załączniku nr 1 do SWZ. Zakres zamówienia obejmuje dostawę na rzecz Zamawiającego: systemu do badań nano-­reologii biomateriałów roślinnych. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w Załączniku nr 1 do SWZ. ZESTAWIENIE MINIMALNYCH WYMAGANYCH PARAMETRÓW TECHNICZNYCH I UŻYTKOWYCH: Lp. MINIMALNY PARAMETR WYMAGANY: 1.1. Głowica AFM 1.1. Zmotoryzowane zestrojenie lasera i detektora 1.2. Rozdzielczość w skali atomowej 1.3. Dla próbek o rozmiarach min. Ø140 mm x 18 mm; 1.4. Wyposażona w trzy silniki krokowe do automatycznego zbliżania się do czujnika z zakresem ruchu > 19 mm 1.5. Głowica całkowicie szczelna przed parą i cieczami 1.6. Poziom szumu <2 pm RMS 1.7. Szerokość pasma detekcji odchylenia do 8 MHz 1.8. Kalibracja sondy przy pomocy szumu termicznego do 3,25 MHz Dołączone tryby obrazowania w powietrzu i cieczy: 1.9. • Tryb „tapping” z liniową kontrolą oddziaływania siły między dźwignią AFM a próbką z częstotliwością oscylacji dźwigni AFM do 10 kHz 1.10. • Obrazowanie ilościowe 1.11. • Tryb łączący tryb „tapping” z liniową kontrolą oddziaływania siły między dźwignią AFM a próbką z obrazowaniem ilościowym z ruchem liniowym 1.12. • Tryb kontaktowy z siłą boczną 1.13. • Tryb „tapping” z obrazowaniem przesunięcia fazowego oscylacji dźwigni AFM 1.14. • Mikroskopia sił magnetycznych Tryby inne niż obrazowe: 1.15. • Spektroskopia siła-odległość, 1.16. • Mapowanie krzywych siła-odległość Specyfikacja skanera: 1.17. • Kontrola w pętli zamkniętej 1.18. • Oś Z mechanicznie oddzielona od skanera XY 1.19. • 3-osiowy pozycyjny sensor pojemnościowy do operowania w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego 1.20. • Szum Z (w sprzężeniu zwrotnym) <30 pm RMS 1.21. • Zakres skanowania XY minimum 100 μm x 100 μm (poziom szumu czujnika <90 pm RMS) 1.22. • Zakres skanowania Z minimum 15 μm (poziom szumu < 40 pm RMS na elemencie piezoelektrycznym 15 μm) 1.23. Źródło światła IR o niskiej koherencji i padaniu pionowym 1.24. Głowica umożliwiająca integrację z odwróconymi mikroskopami optycznymi 1.25. Trzy silniki do automatycznego zbliżania i korekcji pochylenia obejmujące zdalny dostęp do monitorowania eksperymentów za pomocą komputera, tabletu lub telefonu komórkowego 1.26. Możliwość czyszczenia za pomocą detergentów, rozpuszczalników (wskazanych przez wykonawcę) i kąpieli ultradźwiękowej 1.27. W zestawie stojak na głowicę AFM 2. Kontroler 2.1. Cyfrowy kontroler SPM 2.2. Przechwytywanie danych z maksymalną szybkością pikseli danych do 800 000 pikseli/s 2.3. Modułowa hybrydowa konstrukcja analogowo-cyfrowa z technologią FPGA/PPC (dwurdzeniowy PowerPC @ 1,4 GHz) 2.4. Minimum 2 minimum 16-bitowe kanały ADC z częstotliwością próbkowania minimum 60 MHz 2.5. Minimum 6 minimum 18-bitowych kanałów ADC z częstotliwością próbkowania minimum 800 kH 2.6. Minimum 1 szybki minimum 14-bitowy kanał DAC z częstotliwością próbkowania minimum 120 MHz 2.7. Minimum 4 minimum 20-bitowe kanały DAC z częstotliwością próbkowania minimum 800 kHz 2.8. Wzmacniacz do wykrywania amplitudy i fazy 2.9. Minimum 3-kanałowy niskoszumowy interfejs pojemnościowego czujnika odległości 2.10. Kalibracja sondy przy pomocy szumu termicznego do 3,75 MHz 2.11. Wyjście niskonapięciowe dla modułów elektroniki i przedwzmacniaczy o +/-15V i +/-5V 2.12. Wejście cyfrowe: minimum 6 kanałów (Sub-D), Wyjście cyfrowe: minimum 10 kanałów (Sub-D) 2.13. Podłączanie akcesoriów na panelu przednim 2.14. Zgodny z CE 2.15. Połączenie z komputerem sterującym przez 2 Gigabit LAN Konfiguracja samodzielnego komputera PC (minimalne): 2.16. • Zasilanie modularny zasilacz 520W, NT 2.17. • Obudowa typu midi Tower lub równoważna obudowa 2.18. • Procesor 8-rdzeniowy, taktowanie 3.8 GHz spełniający poniższe kryterium wydajności: • cały oferowany systemu komputerowy min. 1899 pkt w teście BAPCo CrossMark Desktop CPU Charts na stronie https://results.bapco.com/performance?benchmark=CrossMark&metric=median&form_factor=desktop. Test CrossMark Desktop CPU Results wykonany na dzień 28.10.2025 r. w konfiguracji całego komputera identycznej z wymaganą oraz przy rozdzielczości ekranu co najmniej 1920x1080 pikseli i innymi ustawieniami zgodnymi z zaleceniami producenta testu." 2.19. • Micro-ATX, obsługująca procesor spełniający kryterium wydajności w pozycji procesor. PCIE 4.0x16 - 1 szt., RJ45 min. 1 GB - 2 szt. - wbudowana lub dedykowana karta sieciowa. Gniazdo M.2 - 1 szt., USB3.0 - 3 szt., HDMI - 1 szt. 2.20. • Pamięć RAM DDR5 32 GB 2.21. • Chłodzenie dedykowane do zaoferowanego procesora. Średnica wentylatora min 92 mm 2.22. • Dysk twardy zbudowany w oparciu o pamięć flash co najmniej 500 GB dedykowany przez producenta komputera. 2.23. • Dodatkowy dysk twardy HDD lub SSD 4 TB. 2.24. • Karta graficzna 4 GB, zintegrowana z procesorem 2.25. • DVD-RW +/- RW 2.26. • Monitor 32-calowy, rozdzielczość: WQHD (2560×1440), panel IPS, czas reakcji: 3 ms, zakres regulacji wysokości: 150 mm 2.27. Stabilny system operacyjny w języku polskim lub angielskim, zainstalowany na sprzęcie komputerowym objętym przedmiotem zamówienia, na którym wstępnie powinno być skonfigurowane oprogramowanie SPM mikroskopu AFM. System z długoterminowym wsparciem. 2.28. Stabilny pakiet oprogramowania biurowego, kompatybilny z system operacyjnym komputera, zawierająca następujące elementy: procesor tekstu, arkusz kalkulacyjny, program do prezentacji. 3. Oprogramowanie mikroskopu: 3.1. Oprogramowanie SPM mikroskopu AFM oparte na systemie zainstalowanym na komputerze do gromadzenia danych za pomocą języka skryptowego 3.2. Jednoczesna akwizycja do minimum 25 kanałów 3.3. Wyświetlanie obrazu w obrazie 3.4. Tryb zapobiegający dryftowi siły wspornika 3.5. Minimum 2 tryby do pomiaru siły 3.6. Minimum czterokanałowe oscyloskopy online z funkcjami FFT 3.7. Interfejs wiersza poleceń umożliwiający dostęp do funkcji podstawowych mikroskopu 3.8. Pełna obsługa zewnętrznego sprzętu i akcesoriów (...) cd. w polu "Informacje dodatkowe"