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Republique tcheque - Microscopes electroniques a balayage - UPOL/Faculte des sciences/KEF - Systeme FIB-SEM avec techniques analytiques et nanoindentation

Original Česko - Snímací elektronové mikroskopy - UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace

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  1. Publié
  2. Date limite ouvert 35 jours
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Résumé

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L'Universite Palacky d'Olomouc, Faculte des sciences, Departement de physique de la matiere condensee (Republique tcheque), acquiert un systeme de microscopie FIB-SEM (microscope electronique a balayage avec faisceau d'ions). Le systeme doit permettre le depot d'au moins trois materiaux (platine, carbone, tungstene) et inclure des techniques analytiques pour l'analyse detaillee des materiaux etudies : 4DSTEM, EBSD, EDS, nanoindentation et TOF-SIMS. Les exigences minimales figurent dans la specification technique et le texte contractuel contraignant joints au dossier d'appel d'offres. Aucune valeur estimee ni date limite de remise des offres n'est indiquee. Les fournisseurs pouvant satisfaire a la specification technique peuvent soumissionner selon la procedure de marche public applicable.

Description

Předmětem Veřejné zakázky je dodávka mikroskopického systému FIB-SEM (skenovací elektronový mikroskop s iontovým svazkem) s možností depozice nejméně tří materiálů (platina, uhlík, wolfram) a s navazujícími analytickými technikami pro detailní analýzu studovaných materiálů (4DSTEM, EBSD, EDS, Nanoindentace, TOF-SIMS). Minimální požadavky na předmět Veřejné zakázky jsou vymezeny technickými, obchodními nebo jinými smluvními podmínkami, které jsou přílohou Zadávací dokumentace. A to zejména Technickou specifikací a závazným Zněním smlouvy.

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 4 semaines

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