Sintesi
Sintesi generata automaticamenteL'Universita Palacky di Olomouc, Facolta di Scienze, Dipartimento di Fisica della Materia Condensata (Repubblica Ceca), acquista un sistema di microscopia FIB-SEM (microscopio elettronico a scansione con fascio ionico). Il sistema deve consentire la deposizione di almeno tre materiali (platino, carbonio, tungsteno) e includere tecniche analitiche per l'analisi dettagliata dei materiali studiati: 4DSTEM, EBSD, EDS, nanoindentazione e TOF-SIMS. I requisiti minimi sono indicati nella specifica tecnica e nel testo contrattuale vincolante allegati al documento d'invito. Non sono indicati il valore stimato né il termine per la presentazione delle offerte. Possono partecipare i fornitori in grado di soddisfare la specifica tecnica, secondo la procedura di appalto pubblico applicabile.
Descrizione
Fonte ufficiale
Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)
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Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 4 settimane fa
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