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Reparación del microscopio Jeol JSM

Original Reparatur Mikroskop Jeol JSM

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Resumen

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El contrato comprende una adaptación completa de hardware y software, el mantenimiento y la modernización de un microscopio electrónico de barrido JEOL JSM-7500F de emisión de campo con cátodo frío, incluido el sistema EDX integrado (detector Bruker XFlash 5030 con el software Esprit 1.9). El cátodo frío y su cerámica aislante deben sustituirse por piezas nuevas o certificadas, con criterios de aceptación cuantitativos como una corriente de emisión estable de al menos 10 microamperios, un brillo igual a las especificaciones originales de fábrica y una deriva de corriente de sonda máxima de más o menos 5 por ciento durante 2 horas. El sistema manual de transporte de muestras debe revisarse o renovarse según requisitos de tasa de fugas y tiempo de vaciado. Está prevista la migración a Windows 11.

Descripción

Projekt: Hard- und Software-Retrofit eines Rasterelektronenmikroskops (REM) JEOL JSM-7500F inklusive EDX-System 1. Gegenstand der Ausschreibung Gegenstand dieser Ausschreibung ist das vollumfängliche Retrofit, die Wartung sowie die Modernisierung der Steuerungs-Hard- und Software eines Rasterelektronenmikroskops vom Typ JEOL JSM-7500F (Feldemissions-REM mit Kaltkathode) sowie des integrierten EDX-Systems (Bruker XFlash Detector 5030 mit Software Esprit 1.9). Ziel des Projektes ist die Wiederherstellung der vollen Betriebsbereitschaft, die Sicherung der Zukunftsfähigkeit durch Migration auf ein modernes Betriebssystem (Windows 11) sowie die Gewährleistung der spezifizierten Performance-Werte durch objektive Prüfbelege. 2. Leistungsumfang und technische Anforderungen 2.1. Elektronenquelle (Kaltkathode & Keramik - Emitter- und Säulentausch) - Austausch: Die bestehende Kaltkathode sowie die zugehörige Isolationskeramik sind gegen Neu- oder zertifizierte Austauschteile zu ersetzen. - Abnahmekriterium (quantitativ): Nach dem Einbau und dem Flashen (Emission Start) muss ein stabiler Emissionsstrom von mindestens Ie=10µA (oder Herstellerspezifikation) erreicht werden. o Der Richtstrahlwert (Brightness) muss die originalen Werksangaben des JEOL JSM- 7500F erreichen. o Stabilität: Der Sondenstrom darf innerhalb eines kontinuierlichen Betriebs von 2 Stunden nach dem täglichen Flashen um nicht mehr als +- 5% driften. 2.2. Überholung/Erneuerung des manuellen Schleusensystems - Leistung: Das manuelle Proben-Schleusensystem (Vakuumsperre/Präparationsschleuse) ist durch ein funktionsgleiches System zu ersetzen. - Abnahmekriterium (quantitativ): o Vakuum-Leckrate: Die Leckrate der Schleusenkammer darf nach Absperrung 1*10-8mbar*l/s nicht überschreiten. o Evakuierungszeit: Die Zeit vom Schließen der Außenschleuse bis zum Erreichen des Transfervakuums (< 10*10-4mbar) darf maximal 20min betragen. o Die mechanische Führung muss spielfrei und mit einer Kraft von <15N manuell bedienbar sein. 2.3. Hard- und Software-Retrofit (angestrebt: Windows 11 Migration) - Steuerungs-PC & Schnittstellen: Lieferung eines modernen Steuerungs-PCs inklusive aller notwendigen Interface-Karten (Frame Grabber, DAQ-Karten etc.), die vollständig kompatibel mit der REM-Elektronik sind. - Betriebssystem: Vollständige Lauffähigkeit aller Steuerungs- und Analysekomponenten unter Windows 11 Pro (64-Bit), Windows 10 nach Rücksprache.- REM-Steuerung: Upgrade der JEOL-Steuerungssoftware auf eine Windows-11-kompatible Version unter Beibehaltung des vollen Funktionsumfangs (Automatisierungsfunktionen, Stigmatorkontrolle, etc.). - EDX-System: Upgrade des Bruker XFlash 5030 Detektorsystems. Die bestehende Software (Esprit 1.9) ist auf die aktuelle, unter Windows 11 / 10 lauffähige Esprit-Version (oder eine äquivalente, vom Hersteller autorisierte Nachfolgeversion) zu migrieren. Alle alten Kalibrierdaten müssen übernommen oder neu eingemessen werden. - Abnahmekriterium (quantitativ): o Latenz: Die Bildübertragungsrate im Live-View (Fast Scan) muss mindestens 15 Frames pro Sekunde (fps) bei einer Auflösung von 1024 x 768 Pixeln betragen. o Stabilität: Nachweis eines fehlerfreien 72-Stunden-Dauerbetriebs (Stress-Test) ohne Systemabstürze, Verbindungsabbrüche zum REM/EDX oder Software-Freezes. 3. Funktionsnachweise und quantitative Abnahmebelege (KPIs) Die finale Abnahme erfolgt erst nach erfolgreicher Erbringung und Dokumentation folgender Nachweise durch den Auftragnehmer: 3.1. Auflösungsvermögen (REM) Der Nachweis des Auflösungsvermögens ist mittels einer zertifizierten Standardprobe (z. B. Gold-Inseln auf Kohlenstoff) zu erbringen: - Hochvakuum / Hohe Spannung: Erreichen einer Linienauflösung von mindestens 1,2nm bei 30kV (Sekundärelektronen-Detektor). - Niedrige Spannung: Erreichen einer Linienauflösung von mindestens 3,0nm bei 1kV. - Beleg: Einreichung von jeweils 5 hochaufgelösten Bildern inklusive digitaler Auswertung (FastFourier-Transformation / FFT zur Bestimmung der Auflösungsgrenze). 3.2. Vakuum-Spezifikationen - Endvakuum Kathoden-Kammer (SIP): 1*10-7Pa (bzw. entsprechende Werksvorgabe für die Kaltkathode). - Endvakuum Probenkammer: 10*10-4Pa innerhalb von 20 Minuten nach Probenwechsel. 3.3. EDX-Leistungsfähigkeit (Bruker XFlash 5030) - Energieauflösung: Nachweis der Energieauflösung am Detektor mittels einer standardisierten Mangan-Probe (Mn-K?). o Grenzwert: Die Halbwertsbreite (FWHM) bei der Mn-K? Linie muss bei einer InputCount-Rate (ICR) von 10.000cps<=le 133eV betragen. - Elementanalyse (Richtigkeit): Quantitativ verifizierte Messung an einem zertifizierten Standard (z. B. Kupfer oder Poliertes Messing). Die Abweichung der gemessenen Elementkonzentrationen vom zertifizierten Soll-Wert darf maximal +-1% (absolut) für Hauptkomponenten (> 10 Massenanteil) betragen.4. Instandsetzung der Detektoren für rückgestreute Elektronen LABE & RIBE Das Gerät besitzt zusätzliche Detektoren, welche lediglich bei Bedarf mechanisch in den Strahlengang verfahren werd

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