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Nederland - Elektronenmicroscopen - Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

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Beschreibung

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1

Amtliche Quelle

Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

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    • Titel: "Nederland - Elektronenmicroscopen - Focused Ion Beam Scanning Electron Microscop..." zu "Nederland – Elektronenmicroscopen – Focused Ion Beam Scanning Electron Microscop..."
    • Geschätzter Wert: Festgelegt auf 610.000 €
    • Geschätzter Wert: Festgelegt auf 610.000 €

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