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Aperlena

Deutschland - Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke - FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

Offen Auftragsbekanntmachung

Eckdaten

Ort
Deutschland Berlin
Verfahren
Verhandlungsverfahren Der Auftraggeber wählt Bewerber aus und verhandelt dann über die Angebote, bevor er entscheidet. Ganzer Eintrag Oberhalb des EU-Schwellenwerts Ein Auftrag, der groß genug ist, dass EU-weite Regeln gelten und er auf TED erscheinen muss. Ganzer Eintrag
CPV-Code Das EU-weite Vokabular für den Beschaffungsgegenstand: ein achtstelliger Code in jeder Bekanntmachung. Ganzer Eintrag
42900000 Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke
Originalsprache
Deutsch
Veröffentlicht
Quelle
über TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), geprüft vor 1 Monat
Bekanntmachungsnummer
532092-2026
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Zusammenfassung

Maschinell erstellte Zusammenfassung

Beschafft wird ein FIB-SEM Dualbeam System: ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop. Das System soll für Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren, Resists und typischen Prozessprodukten der Halbleitertechnik eingesetzt werden. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Optionen: Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), ein Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen sowie ein Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien. Interessierte Bieter sollten die vollständigen Vergabeunterlagen einsehen.

Beschreibung

FIB & SEM system + floor vibrations, acoustics interference, and magnetic field interference (HHI-01) 1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien

Amtliche Quelle

Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.

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Zuletzt mit TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) abgeglichen vor 1 Monat

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Vollständiges Auftraggeberprofil

88 offene Ausschreibungen derzeit

Für diesen Auftraggeber sind in diesem Sektor noch keine Vergaben erfasst. Übliche Gewinner, Industriemaschinen - Deutschland

Unternehmen Zuschläge Vergebenes Volumen Letzter Zuschlag
DMG MORI Technium Europe GmbH 9 824.275 € Sep 2026
EV Group E. Thallner GmbH 5 k. A. Aug 2026
E.W. NEU GmbH 4 2,9 Mio. € Aug 2026
SENTECH Gesellschaft für Sensortechnik mbH 4 145.134 € Mai 2026
KLA Corporation 4 k. A. Aug 2026

Grundlage: 457 Vergaben mit verknüpftem Unternehmensprofil aus den letzten 2 Jahren.

Änderungsverlauf

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