Das Aperlena-Urteil
Offenes RennenKein Anbieter dominiert: 26 verschiedene Unternehmen haben die letzten 35 vergleichbaren Aufträge dieses Auftraggebers in 5 Jahren gewonnen. Ein wirklich offenes Rennen.
Basierend auf 35 vergleichbaren Zuschlägen dieses Auftraggebers in dieser Branche über 5 Jahre. Jedes Urteil wird vor dem Ergebnis festgehalten und an der Zuschlagsbekanntmachung gemessen. Wie wir uns selbst bewerten.
Zusammenfassung
Maschinell erstellte ZusammenfassungEin deutscher öffentlicher Auftraggeber beschafft ein FIB-SEM Dualbeam System, ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop. Es soll für Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren, Resists und typischen Prozessprodukten der Halbleitertechnik eingesetzt werden. Zur Leistung gehören Installation sowie Raummessungen am Aufstellungsort zu Bodenvibrationen, akustischen und magnetischen Störungen, zudem Vorbereitungsmaßnahmen zur Einhaltung der Geräte- und Prozessgasspezifikation. Optionen: Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), ein Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen sowie ein Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien.
Beschreibung
Amtliche Quelle
Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)
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Vollständiges Auftraggeberprofil86 offene Ausschreibungen derzeit
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Wer die Aufträge dieses Auftraggebers in diesem Sektor gewöhnlich gewinnt
| Unternehmen | Zuschläge | Vergebenes Volumen | Letzter Zuschlag |
|---|---|---|---|
| EV Group E. Thallner GmbH | 4 | k. A. | Aug 2026 |
| Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | 3 | k. A. | Apr 2026 |
| KLA Corporation | 3 | k. A. | Aug 2026 |
| AP und S International GmbH | 2 | k. A. | Sep 2026 |
| SENTECH Gesellschaft für Sensortechnik mbH | 2 | k. A. | Mai 2026 |
Grundlage: 35 Vergaben mit verknüpftem Unternehmensprofil aus den letzten 5 Jahren.
Änderungsverlauf
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