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Aperlena

Deutschland - Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke - FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

Offen Auftragsbekanntmachung

Eckdaten

Ort
Deutschland Berlin
Verfahren
Verhandlungsverfahren Der Auftraggeber wählt Bewerber aus und verhandelt dann über die Angebote, bevor er entscheidet. Ganzer Eintrag Oberhalb des EU-Schwellenwerts Ein Auftrag, der groß genug ist, dass EU-weite Regeln gelten und er auf TED erscheinen muss. Ganzer Eintrag
CPV-Code Das EU-weite Vokabular für den Beschaffungsgegenstand: ein achtstelliger Code in jeder Bekanntmachung. Ganzer Eintrag
42900000 Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke 38512100 Ionenmikroskope
Originalsprache
Deutsch
Veröffentlicht
Quelle
über TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), geprüft vor 1 Monat
Bekanntmachungsnummer
443173-2026
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Das Aperlena-Urteil

Offenes Rennen

Kein Anbieter dominiert: 26 verschiedene Unternehmen haben die letzten 35 vergleichbaren Aufträge dieses Auftraggebers in 5 Jahren gewonnen. Ein wirklich offenes Rennen.

Basierend auf 35 vergleichbaren Zuschlägen dieses Auftraggebers in dieser Branche über 5 Jahre. Jedes Urteil wird vor dem Ergebnis festgehalten und an der Zuschlagsbekanntmachung gemessen. Wie wir uns selbst bewerten.

Zusammenfassung

Maschinell erstellte Zusammenfassung

Ein Auftraggeber in Deutschland beschafft ein FIB-SEM Dualbeam System, ein feldfreies fokussiertes Ionenstrahlsystem in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop. Das System dient der Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren, Resists und typischen Prozessprodukten der Halbleitertechnik; programmierbare und automatisierte Routinen sollten konfigurierbar sein. Der Bieter muss das System installieren, am Aufstellungsort Raummessungen zu Bodenvibrationen, akustischen und magnetischen Störungen durchführen und durch Vorbereitungsmaßnahmen die Einhaltung der Geräte- und Prozessspezifikationen sicherstellen. Optionen umfassen eine Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage, ein Gasinjektionssystem und ein Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien.

Beschreibung

FIB & SEM system + floor vibrations, acoustics interference, and magnetic field interference (HHI-01) 1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien

Amtliche Quelle

Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.

Zuletzt mit TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) abgeglichen vor 1 Monat

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Vollständiges Auftraggeberprofil

87 offene Ausschreibungen derzeit

Wer die Aufträge dieses Auftraggebers in diesem Sektor gewöhnlich gewinnt

Unternehmen Zuschläge Vergebenes Volumen Letzter Zuschlag
EV Group E. Thallner GmbH 4 k. A. Aug 2026
Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. 3 k. A. Apr 2026
KLA Corporation 3 k. A. Aug 2026
AP und S International GmbH 2 k. A. Sep 2026
SENTECH Gesellschaft für Sensortechnik mbH 2 k. A. Mai 2026

Grundlage: 35 Vergaben mit verknüpftem Unternehmensprofil aus den letzten 5 Jahren.

Änderungsverlauf

Jedes Mal, wenn eine offizielle Quelle diese Bekanntmachung mit geändertem Inhalt erneut veröffentlicht hat. Wir beobachten alle Quellen, die wir indexieren, auch regionale Kopien derselben Bekanntmachung.

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Marktkontext

Ø offene Ausschreibung · Industriemaschinen
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