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Aperlena

Belgien - Waferkompatibles Plasma-Focused-Ion-Beam-Rasterelektronenmikroskop (PFIB-SEM) System

Original België - Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen) - WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Offen Auftragsbekanntmachung

Eckdaten

Auftraggeber
Imec EU Pilot line NV
Ort
Belgien Prov. Vlaams-Brabant
Verfahren
Verhandlungsverfahren Der Auftraggeber wählt Bewerber aus und verhandelt dann über die Angebote, bevor er entscheidet. Ganzer Eintrag Oberhalb des EU-Schwellenwerts Ein Auftrag, der groß genug ist, dass EU-weite Regeln gelten und er auf TED erscheinen muss. Ganzer Eintrag
CPV-Code Das EU-weite Vokabular für den Beschaffungsgegenstand: ein achtstelliger Code in jeder Bekanntmachung. Ganzer Eintrag
38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Originalsprache
Niederländisch
Veröffentlicht
Quelle
über TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), geprüft vor 1 Monat
Bekanntmachungsnummer
382478-2026
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Das Aperlena-Urteil

Offenes Rennen

Kein Anbieter dominiert: 7 verschiedene Unternehmen haben die letzten 16 vergleichbaren Aufträge dieses Auftraggebers in 5 Jahren gewonnen. Ein wirklich offenes Rennen.

Basierend auf 16 vergleichbaren Zuschlägen dieses Auftraggebers in dieser Branche über 5 Jahre. Jedes Urteil wird vor dem Ergebnis festgehalten und an der Zuschlagsbekanntmachung gemessen. Wie wir uns selbst bewerten.

Zusammenfassung

Maschinell erstellte Zusammenfassung

Ein öffentlicher Auftraggeber in Belgien beschafft ein waferkompatibles Plasma-Focused-Ion-Beam-Rasterelektronenmikroskop (PFIB-SEM) System. Der Auftrag fällt in die Kategorie Laborinstrumente sowie optische und Präzisionsinstrumente (ausgenommen Brillen). Die Bekanntmachung liegt auf Niederländisch vor. Angaben zum geschätzten Auftragswert, zur Einreichungsfrist und zu konkreten Teilnahmebedingungen sind in der vorliegenden Beschreibung nicht enthalten. Interessierte Lieferanten wissenschaftlicher Laborausrüstung sollten die vollständigen Ausschreibungsunterlagen zu Verfahren, Anforderungen und Fristen heranziehen, bevor sie ein Angebot vorbereiten.

Beschreibung

WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Amtliche Quelle

Quelle: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.

Zuletzt mit TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) abgeglichen vor 1 Monat

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Vollständiges Auftraggeberprofil

21 offene Ausschreibungen derzeit

Wer die Aufträge dieses Auftraggebers in diesem Sektor gewöhnlich gewinnt

Unternehmen Zuschläge Vergebenes Volumen Letzter Zuschlag
KLA Corporation 6 k. A. Mär 2026
LAM 3 k. A. Mai 2026
Tokyo Electron Europe Limited 3 k. A. Jul 2026
ASML NL 1 k. A. Mai 2026
EBARA Precision Machinery Europe GmbH 1 k. A. Mär 2026

Grundlage: 16 Vergaben mit verknüpftem Unternehmensprofil aus den letzten 5 Jahren.

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