Przejdź do treści
Aperlena
Język:

Dostawa i instalacja testera optycznego na poziomie wafla

Oryginał Supply, Delivery and Installation of Wafer-Level Optical Tester

Zamknięty Ogłoszenie o zamówieniu
Obserwuj ten przetarg

Składanie ofert zakończone. Udzielenie zamówienia lub sprostowanie tego ogłoszenia: e-mail, gdy rejestr to zobaczy. Zaloguj się

  1. Opublikowano
  2. Termin składania otwarte 33 dni
  3. Udzielony oczekuje

Streszczenie

Streszczenie wygenerowane automatycznie

Uniwersytet w Strathclyde zamierza nabyć, odebrać i zainstalować testery optyczne na poziomie wafla, zdolne do charakteryzowania zarówno matryc laserów DFB o emisji powierzchniowej, jak i krzemowych zintegrowanych obwodów fotonycznych. Zakup wspiera National Centre for Advanced Semiconductor Packaging (NCASP), które ma stworzyć brytyjskie, otwarte zaplecze pakowania i testowania półprzewodników. Szacunkowa wartość zamówienia, termin składania ofert oraz szczegóły procedury nie zostały podane w dostępnym opisie, dlatego zainteresowani dostawcy powinni zapoznać się z pełną dokumentacją przetargową.

Opis

Background The UK urgently requires a sovereign, open-access advanced semiconductor packaging capability to close a well-evidenced market failure. Today, UK innovators in photonics and power electronics rely on overseas Outsourced Semiconductor Assembly and Test (OSAT) facilities for scaling to volume packaging, which fragments the supply chain, extends lead times, increases Intellectual Property (IP) leakage risk, and exposes critical technologies to geopolitical disruption. The National Centre for Advanced Semiconductor Packaging (NCASP) is the missing link that converts research excellence into manufacturable products. NCASP is creating an integrated, industry-led scale-up facility that connects UK device design to domestic, high-volume packaging, test and metrology - reducing time-to-market and anchoring value onshore. Description The University of Strathclyde has a requirement for wafer-level optical tester(s) capable of performing characterization of both surface-emitting Distributed Feedback (DFB) laser arrays and silicon photonic integrated circuits (PICs).

Oficjalne źródło

Źródło: Find a Tender Service (UK Cabinet Office / Crown Commercial Service)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Ostatnia weryfikacja w Find a Tender Service (UK Cabinet Office / Crown Commercial Service) 1 miesiąc temu

Dokumenty w Find a Tender Service (UK Cabinet Office / Crown Commercial Service) (angielski)

Zobacz oficjalne ogłoszenie

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

1 otwarty przetarg w tej chwili

Ostatnie udzielenia

Historia zmian

Każdy przypadek ponownej publikacji tego ogłoszenia przez oficjalne źródło ze zmieniona treścią. Monitorujemy wszystkie źródła, które indeksujemy, w tym regionalne kopie tego samego ogłoszenia.

  1. Przeczytaj przed złożeniem oferty
    • Wartość szacunkowa: Podniesiono do 919 433 € (+0%)
  2. Przeczytaj przed złożeniem oferty
    • Wartość szacunkowa: Podniesiono do 919 272 € (+0%)

Obserwuj ten przetarg, a napiszemy do Ciebie, gdy tylko się zmieni. Załóż konto

Podobne przetargi

5

dni do końca

Remont dachu hali targowej

Wielka Brytania Nantwich Town Council

204 141 €

wartość szac.

Kontekst rynkowy

Historia zamawiającego w Aperlena
122 zarejestrowanych ogłoszeń · 80 udzielonych
18 071 936 € w udzielonych zamówieniach

Nie przegap przetargów takich jak ten

6 877 nowych ogłoszeń w ostatnich 7 dniach: wszystkie sektory, Wielka Brytania. Otrzymuj e-mail, gdy pojawią się nowe ogłoszenia. Za darmo.

Ustaw mój alert
Źródło

Skróty klawiszowe

Przeglądaj listę bez sięgania po mysz. Skróty nie działają podczas pisania w polu.

j
Następny wynik
k
Poprzedni wynik
Enter
Otwórz wynik
n
Następna strona
p
Poprzednia strona
c
Porównaj ten wynik
s
Dodaj ten wynik do krótkiej listy
/
Przejdź do pola wyszukiwania
?
Pokaż te skróty
Esc
Zamknij