Przejdź do treści
Aperlena
Język:

Finlandia - Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wył. okularów) - Urządzenie do elektrochemicznej mikroskopii sił atomowych

Oryginał Finland - Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses) - Electrochemical atomic force microscopy device

Udzielony Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia Nie opublikowano terminu
Obserwuj ten przetarg

Składanie ofert zakończone. Udzielenie zamówienia lub sprostowanie tego ogłoszenia: e-mail, gdy rejestr to zobaczy. Zaloguj się

  1. Opublikowano
  2. Udzielony oczekuje

Streszczenie

Streszczenie wygenerowane automatycznie

Aalto University Foundation sr przyznała kontrakt na urządzenie do elektrochemicznej mikroskopii sił atomowych. Urządzenie oferuje tryb obrazowania z sinusoidalnymi drganiami nierezonansowymi z czystą modulacją z w pionie, określanie w czasie rzeczywistym maksymalnej siły kontaktu do 10 pN, częstość linii co najmniej 2 Hz przy 512 pikselach/linię oraz jednoczesny pomiar w czasie rzeczywistym topografii, modułu DMT, adhezji, dyssypacji energii, błędu nastawy siły i deformacji. Wymagany jest niski szum z o wartości 40 pm RMS lub mniej, skaner w pętli zamkniętej co najmniej 85 um x 85 um x 9,5 um XYZ oraz zmotoryzowany stół 150 mm x 150 mm. Kontrakt został przyznany.

Opis

Electrochemical atomic force microscopy device: 1) non-resonant sinusoidal-oscillating imaging mode (nroIM): a. Pure vertical z-modulation of the cantilever; amplitudes (from < 1 nm to > 250 nm) and frequencies (from 125 Hz up to 2 kHz) freely selectable. b. In each contacting cycle, a direct determination of the maximum contact force (force setpoint) takes place in real time, where upon all control parameters are automatically and continuously optimized. Force setpoint minimum down to 10 pN. Stable imaging also for "negative force setpoints", i.e., below the baseline of the free force curve. c. Effective line rate >= 2 Hz at 512 pixel/line for all force setpoints possible. d. Suited for cantilevers with spring constants from < 0.001 N/m to > 500 N/m. e. Topography, DMT modulus, adhesion, energy dissipation, force setpoint error and deformation are measured and displayed simultaneously (location and time) and in real time. f. Lateral resolution down to atomic defects in lattice is possible. g. The tip-sample force interaction is continuously displayed in real time during the imaging process. h. This mode can be operated without any limitation of functionality with liquid cells, heating cells, EC cell, etc. The change of deflection signal due to cantilever drift is automatically and continuously eliminated (drift, e.g., induced by change of temperature or other environmental conditions). 2) System should be temperature controlled to minimize thermal drift: sensor in scanner and bridge with feedback loop to have scanner + bridge at similar temperature. Availability to heat from ambient to 35 deg. C. 3) System must be: a. Low-z-noise (< / = 40 pm RMS) atomic force microscope (AFM) with closed-loop tip-scanner (in all 3 axes) >= 85 um x 85 um x 9.5 um XYZ. b. Large sample space, capable to integrate heavy (> 5 kg) additional components (e.g., Nanoprober, customized sample holders, external magnetic fields). c. Motorized 150 mm x 150 mm sample stage. d. Extensive set of resonant, non-resonant and non-resonant oscillating imaging modes. The non-resonant, sinusoidal-oscillating imaging mode (nroIM) with freely selectable i) pure vertical z-modulation of the cantilever (amplitudes from < 1 nm to > 250 nm) and ii) frequencies from 125 Hz up to 2 kHz, WITH automated, continuous contact force dependent imaging gains optimization. e. Enhanced scan parameter optimization algorithms that continuously monitor and automatically optimize key feedback-loop parameters (gains, setpoint) for all 3 imaging modes (contact, resonant and non-resonant oscillating). Algorithms are also based on a trace-retrace correlation score. User sets scan size, scan rate and pixel density, then selects engage and system sets and automatically controls feedback settings during scanning continuously. f. Extensive set of piezo force microscopy (PFM) imaging and spectroscopy modes volume spectroscopy (hyperspectral mapping modes) of PFM signals (frequency sweep on large bandwidth to get contact resonance frequency and eigenmode (amplitude/phase versus voltage) simultaneously to topography and mechanical properties, further referred to as dataCUBE modes. g. Torsional resonance mode to acquire dynamic friction signal. Mode has proven to high-resolution image moire pattern of stacked 2D materials. h. Nano-electrical imaging of surface potential (KPFM) in non-resonant, sinusoidal-oscillating imaging mode. 4) Sample handling and automation: a. Accessible sample space >/= 150 mm x 150 mm x 18 mm XYZ, up to 45 mm height. b. Motorized (minimum 150 mm x 150 mm) and programable sample stage, with vacuum sample hold down. c. Vertical, software controlled and automated AFM-tip engage functionality.

Oficjalne źródło

Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Ostatnia weryfikacja w TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 6 dni temu

Zobacz oficjalne ogłoszenie

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

1 otwarty przetarg w tej chwili

Ostatnie udzielenia

Podobne przetargi

Kontekst rynkowy

Śr. otwarty przetarg · Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny
5 662 366 €
2 298 otwartych teraz w Europie
Historia zamawiającego w Aperlena
24 zarejestrowanych ogłoszeń · 8 udzielonych
11 710 850 € w udzielonych zamówieniach

Nie przegap przetargów takich jak ten

11 nowych ogłoszeń w ostatnich 7 dniach: Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny, Finlandia. Otrzymuj e-mail, gdy pojawią się nowe ogłoszenia. Za darmo.

Ustaw mój alert
Źródło

Skróty klawiszowe

Przeglądaj listę bez sięgania po mysz. Skróty nie działają podczas pisania w polu.

j
Następny wynik
k
Poprzedni wynik
Enter
Otwórz wynik
n
Następna strona
p
Poprzednia strona
c
Porównaj ten wynik
s
Dodaj ten wynik do krótkiej listy
/
Przejdź do pola wyszukiwania
?
Pokaż te skróty
Esc
Zamknij