Opis
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (scattering Scanning Nearfield Optical Microscope s-SNOM) beschaffen. Dieses soll die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen unter Anregung mit kohärenter Laserstrahlung im sichtbaren bis infraroten Spektralbereich mit einer lateralen Ortsauflösung von 30 nm durch intensitäts- und phasenaufgelöste Vermessung des an einer Spitze gestreuten optischen Nachfeldes ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.
Oficjalne źródło
Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)
Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.
Ostatnia weryfikacja w TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 miesiąc temu
Więcej od tego zamawiającego
Pełny profil zamawiającego14 otwartych przetargów w tej chwili
- Spektrometr z detektorami CCD i InGaAs Zostało 11 dni
- Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szkła) - Wielofunkcyjne urządzenie sterujące, pomiarowe i do przetwarzania sygnałów oparte na FPGA Zostało 12 dni
- Źródło światła dla stanowiska pomiarowego do inspekcji (strojalne źródło laserowe MWIR) Zostało 12 dni
Ostatnie udzielenia
Podobne przetargi
Kontekst rynkowy
- Śr. otwarty przetarg · Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny
- 5 443 417 €
- Historia zamawiającego w Aperlena
- 158 zarejestrowanych ogłoszeń · 51 udzielonych
- 11 029 725 € w udzielonych zamówieniach
Nie przegap przetargów takich jak ten
64 nowych ogłoszeń w ostatnich 7 dniach: Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny, Niemcy. Otrzymuj e-mail, gdy pojawią się nowe ogłoszenia. Za darmo.
Ustaw mój alert