Polska - Aparatura kontrolna i badawcza - AD/ZP/132/25 Zakup i dostawa fabrycznie nowych elementów doposażenia Politechniki Poznańskiej z podziałem na części.

Przedmiotem zamówienia jest zakup i dostawa fabrycznie nowych elementów doposażenia Politechniki Poznańskiej z podziałem na części. Zakup finansowany jest w ramach projektu FENG.02.04-IP.04-0007/24 pn. NSMET - Narodowa Sieć Metrologii Współrzędnościowej - rozszerzenie możliwości w zakresie pomiarów ultraprecyzyjnych i in-process metrology. PAKIET I - Doposażenie współrzędnościowej maszyny optycznej w skali mikro Alicona uCMM, w elementy wspierające pracę z różnymi oświetleniami, powiększeniami i automatyzację wraz z oprogramowaniem oraz przeprowadzeniem szkolenia. PAKIET II: - Doposażenie mikrotomografu komputerowego v|tome|x M metrology, do badań tomograficznych in-situ w komorę termiczną oraz urządzenie do badań wytrzymałościowych w zakres temperatur co najmniej od -15°C do +150°C oraz sile rozciągania / ściskania co najmniej 5kN wraz z przeprowadzeniem szkolenia. PAKIET III - Doposażenie interferometru Lasertex pozwalające na zwiększenie funkcjonalności systemu laserowego wraz z oprogramowaniem. PAKIET IV - Doposażenie mikroskopu skaningowego elektronowego JEOL JSM-IT 700 HR/LV w układ do preparowania przekrojów poprzecznych materiałów wiązką jonów argonu z przeznaczeniem do badań w skaningowym mikroskopie elektronowym wraz z napylarką węglową wraz z przeprowadzeniem szkolenia. PAKIET V - Doposażenie multisensorycznej maszyny pomiarowej Hexagon Optiv 763, w głowicę chromatycznego światła białego oraz stół pomiarowy o dwóch osiach obrotowych wraz z przeprowadzeniem szkolenia PAKIET I - Doposażenie współrzędnościowej maszyny optycznej w skali mikro Alicona uCMM, w elementy wspierające pracę z różnymi oświetleniami, powiększeniami i automatyzację wraz z oprogramowaniem oraz przeprowadzeniem szkolenia.; PAKIET II: Doposażenie mikrotomografu komputerowego v|tome|x M metrology, do badań tomograficznych in-situ w komorę termiczną oraz urządzenie do badań wytrzymałościowych w zakres temperatur co najmniej od -15°C do +150°C oraz sile rozciągania / ściskania co najmniej 5kN wraz z przeprowadzeniem szkolenia; PAKIET III - Doposażenie interferometru Lasertex pozwalające na zwiększenie funkcjonalności systemu laserowego wraz z oprogramowaniem; PAKIET IV - Doposażenie mikroskopu skaningowego elektronowego JEOL JSM-IT 700 HR/LV w układ do preparowania przekrojów poprzecznych materiałów wiązką jonów argonu z przeznaczeniem do badań w skaningowym mikroskopie elektronowym wraz z napylarką węglową wraz z przeprowadzeniem szkolenia.; PAKIET V - Doposażenie multisensorycznej maszyny pomiarowej Hexagon Optiv 763, w głowicę chromatycznego światła białego oraz stół pomiarowy o dwóch osiach obrotowych wraz z przeprowadzeniem szkolenia