Descrizione
SOC-Testsystem
This specification describes the requirements for a semiconductor test system (mixed-signal test system) to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The test system must provide interfaces that allow connection with an industrial standard wafer probing system as well as with an industrial standard device handling system. The test system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft.
Fonte ufficiale
Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)
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Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 mese fa
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