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Un microscope électronique à transmission en balayage corrigé de l'aberration sphérique (STEM) à haute résolution

Original Ein hochauflösendes Cs-korrigiertes Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM)

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L'EPFL, via son achats d'équipements scientifiques, a attribué un contrat pour un microscope électronique à transmission en balayage (STEM) corrigé de l'aberration sphérique à haute résolution. Il sera intégré à la plateforme de microscopie électronique de l'EPFL, le CIME. Outre les opérations TEM conventionnelles courantes telles que l'imagerie BF/DF et la diffraction en aire sélectionnée, il servira à étudier la nanostructure et la composition chimique d'échantillons en science des matériaux, physique et chimie avec une résolution atomique. Il devra être utilisable par des utilisateurs inexpérimentés, avec un fonctionnement intuitif sans des années d'expérience en TEM, et un changement de haute tension doit être possible dans une seule séance d'une demi-journée. Le statut est : contrat attribué.

Description

Die EPFL beabsichtigt, ein hochauflösendes Cs-korrigiertes Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) anzuschaffen, das in die Elektronenmikroskopie-Plattform der EPFL, CIME, integriert werden soll. Zusätzlich zu den routinemäßigen, konventionellen TEM-Operationen wie BF/DF-Abbildungen und ausgewählter Bereichsbeugung wird das neue Mikroskop dazu dienen, die Nanostruktur und chemische Zusammensetzung von Proben im Bereich der Materialwissenschaften, Physik und Chemie mit atomarer Auflösung zu untersuchen. Es wird auch von unerfahrenen Anwendern in der Mikroskopie bedient werden, die Cs-korrigierte Mikroskopie-Techniken benötigen. Die Bedienung und Justierung sollte intuitiv sein und keine langjährige Erfahrung in Transmissionselektronenmikroskopie erfordern. Das Mikroskop sollte den Wechsel von Abbildungstechniken und Hochspannungen innerhalb eines angemessenen Zeitraums ermöglichen und die vollständigen Spezifikationen erfüllen. In der Regel muss ein HT-Wechsel innerhalb einer einzigen Sitzung (einem halben Tag) möglich sein.

Source officielle

Source : simap.ch - Swiss public procurement platform

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

Dernière vérification auprès de simap.ch - Swiss public procurement platform il y a 4 semaines

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