Aller au contenu
Aperlena
Langue:

Deutschland - Massenspektrometer - high-performance TOF-SIMS with SPM (IMWS-13.1) - PR876572-2690-P

Attribué Avis d'attribution Aucune date limite publiée
Suivre ce marché

Les offres sont closes. Une attribution ou un rectificatif sur cet avis : un e-mail quand le registre le voit. Se connecter

  1. Publié
  2. Attribué en attente

Description

1 Stück high-performance TOF-SIMS with SPM (IMWS-13.1) Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS ist ein methodisch ausgerichtetes Fraunhofer-Institut in den Fachdisziplinen Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. Das Fraunhofer IMWS ist Ansprechpartner für die Industrie und öffentliche Auftraggeber für alle Fragestellungen, die die Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen betreffen - mit dem Ziel, Materialeffizienz und Wirtschaftlichkeit zu steigern und Ressourcen zu schonen. Im Rahmen des EU Chips Acts plant das Fraunhofer IMWS die Anschaffung eines Kombinationsgerätes, welches die Möglichkeit der gekoppelten Probenanalyse durch Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) sowie Rastersondenmikroskopie (scanning probe microscopy, SPM) der gleichen Probenstelle in situ bietet. Gefragt ist ein Gerät zur Spurenanalyse an µm-skaligen Kontaktschnittstellen von hochintegrierten 2,5/3D- und QMI-Bauelementen, zum Nachweis der elementaren Zusammensetzung bzw. der lateralen und räumlichen Verteilung von Elementen und chemischen Verbindungen auf Probenoberflächen und Probengefügen, mit dem primären Ziel des Nachweises von (Spuren-)Verunreinigungen auf Proben und in Probenvolumina sowie dem Nachweis möglicher Interdiffusionsprozesse. Aufgrund ihrer inhärent hohen Nachweisempfindlichkeit für fast alle Elemente und chemischen Verbindungen wurde die ToF-SIMS-Technik als geeignetes Verfahren identifiziert, um Spurenelemente und (auch organische) Verunreinigungen auf funktionalen Strukturen quasi zerstörungsfrei nachzuweisen, da mit TOF-SIMS der Nachweis von Spurenelementen im ppm-ppb-Bereich möglich ist. Für die Oberflächenanalyse ist eine laterale Auflösung < 100 nm erforderlich. Die Möglichkeit zur Darstellung der flächigen Verteilung der durch die Analyse aufgespürten Elemente und Verbindungen muss gegeben sein. Es muss außerdem die Möglichkeit bestehen, durch sukzessiven Probenabtrag während der Akquise tiefenprofilometrisch auch die Verteilung der chemischen Elemente und Verbindungen im Probenvolumen zu registrieren und dreidimensional darzustellen. Proben mit einer heterogenen 3D-Struktur stellen eine große Herausforderung für die Analyse dar, weil die Abtragsrate materialabhängig ist und zusätzliche Herausforderungen wie Abschattungs- und Aufraueffekte die Interpretation von 3D-Datensätzen solch anspruchsvoller Proben einschränken. Deshalb wird ein Gerät benötigt, das eine Kombination von ToF-SIMS mit SPM innerhalb derselben Plattform in situ bietet. Zur Analyse der realen Probentopographie ist eine hohe Vorschubgenauigkeit < 1 µm zwischen der SPM- und der ToF-SIMS-Tiefenprofilierungsposition erforderlich. Ziel ist es, die 3D ToF-SIMS-Datensätze mit den SPM-Topographieinformationen zu kombinieren, um topographiekorrigierte 3D-Datensätze für Heterostrukturen oder -Bauteile zu erzeugen. Für die Analyse organischer Probensysteme oder komplexer, integrierter heterogener anorganisch-organischer Probensysteme wird zusätzlich die Möglichkeit zur schonenden Tiefenprofilierung gewünscht - in dem Sinn, dass eine durch den Energieeintrag der zerstäubenden Ionenspeziies induzierte Durchmischung oder Auflösung (organischer) Probenbestandteile auf ein Minimum reduziert wird. Zudem soll die Möglichkeit bestehen, Proben mit 10 Zoll Durchmesser ohne vorherige Verkleinerung in das Gerät überführen zu können. Optionen: siehe Leistungsverzeichnis

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 1 mois

Consulter l'avis officiel

Plus de cet acheteur

Profil complet de l'acheteur

86 marchés ouverts actuellement

Attributions récentes

Historique des modifications

Chaque republication de cet avis par une source officielle avec un contenu différent. Nous surveillons toutes les sources que nous indexons, y compris les copies régionales du même avis.

  1. A lire avant de repondre
    • Objet et critères: La description a été étoffée. À relire avant de repondre.

Suivez ce marche et nous vous ecrivons dès qu'il change. Créer un compte

Marchés similaires

Contexte de marché

Appel ouvert moyen · Équipements de laboratoire & de précision
5 515 565 €
1 972 ouverts en Europe actuellement
Historique de l'acheteur sur Aperlena
384 avis suivis · 181 attribués
651 275 € de contrats attribués

Ne manquez plus aucun marché comme celui-ci

63 nouveaux avis pour Équipements de laboratoire & de précision en Allemagne au cours des 7 derniers jours. Recevez un e-mail quand de nouveaux avis paraissent. Gratuit.

Créer mon alerte
Source

Raccourcis clavier

Parcourir une liste sans toucher la souris. Les raccourcis restent inactifs pendant la saisie dans un champ.

j
Résultat suivant
k
Résultat précédent
Entrée
Ouvrir le résultat
n
Page suivante
p
Page précédente
c
Comparer ce résultat
s
Ajouter ce résultat à la présélection
/
Aller au champ de recherche
?
Afficher ces raccourcis
Échap
Fermer