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Allemagne - Machines d'usage général et spécial - Système FIB & SEM (HHI-01) - PR1216644-3220-P

Original Deutschland - Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke - FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

Ouvert Avis de marché

Informations clés

Lieu
Allemagne Berlin
Procédure
Procédure négociée L'acheteur sélectionne des candidats, puis négocie les offres avant de choisir. Entrée complète Au-dessus du seuil européen Un marché assez important pour que les règles européennes s'appliquent et qu'il paraisse sur TED. Entrée complète
Code CPV Le vocabulaire commun de l'UE pour ce qui est acheté : un code à huit chiffres présent dans chaque avis. Entrée complète
42900000 Machines diverses à usage général et à usage spécial 38512100 Microscopes ioniques
Langue d'origine
Allemand
Publié
Source
via TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU), vérifié il y a 1 mois
Numéro de l'avis
435079-2026
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Résumé

Résumé généré automatiquement

Un acheteur public allemand acquiert un système FIB-SEM dualbeam : un système à faisceau d'ions focalisé sans champ (sans optique d'immersion), combiné à un microscope électronique à balayage haute résolution. Le système servira au structurage, à la nanostructuration ainsi qu'à l'analyse de coupes et de surfaces de semi-conducteurs III/V, de LNOI, de polymères, de résines et de produits typiques des procédés semi-conducteurs. Les routines programmables et automatisées devraient être configurables dans la mesure du possible. Options : formation avancée de 15 jours (2 personnes), un système d'injection de gaz avec d'autres éléments à définir dans l'appel d'offres, et un module logiciel d'importation de fichiers KLAF.

Description

FIB & SEM system (HHI-01) 1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien

Source officielle

Source : TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Vérifiez toujours les détails dans l'avis officiel.

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Dernière vérification auprès de TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) il y a 1 mois

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Contexte de marché

Appel ouvert moyen · Machines industrielles
1 709 730 €
2 490 ouverts en Europe actuellement
Historique de l'acheteur sur Aperlena
388 avis suivis · 182 attribués
651 275 € de contrats attribués

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