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Sweden - Scanning electron microscopes - Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

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  1. Pubblicata
  2. Scadenza aperta 53 giorni
  3. Aggiudicata in attesa

Descrizione

Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.

Fonte ufficiale

Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica sempre i dettagli nell'avviso ufficiale.

Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 mese fa

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    • Titolo: "Sweden - Scanning electron microscopes - Focused Ion Beam, Scanning Electron Mic..." a "Sweden – Scanning electron microscopes – Focused Ion Beam, Scanning Electron Mic..."
    • Valore stimato: Fissato a 2.547.191 €
    • Termine di presentazione: Anticipato di 1 giorno: ora 24 agosto 2026, 00:00
    • Valore stimato: Fissato a 28.000.000 €

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