Vai al contenuto
Aperlena
Lingua:

Germania - Strumenti per misurare grandezze elettriche - Sistema di sonda RF semiautomatico da 300 mm per misurazioni su wafer fino a 250 GHz

Originale Deutschland - Instrumente zum Messen elektrischer Größen - 300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

Chiusa Bando di gara
Segui questa gara

Le offerte sono chiuse. Un'aggiudicazione o una rettifica su questo avviso: un'email quando il registro lo vede. Accedi

  1. Pubblicata
  2. Scadenza aperta 30 giorni
  3. Aggiudicata in attesa

Sintesi

Sintesi generata automaticamente

L'acquirente intende acquisire un sistema di sonda RF semiautomatico da 300 mm progettato per misurazioni su wafer fino a 250 GHz. Questa gara d'appalto è pubblicata in Germania e rientra nella categoria degli strumenti per misurare grandezze elettriche. L'approvvigionamento mira ad acquisire attrezzature specializzate per test elettrici avanzati. Le parti interessate devono consultare i documenti ufficiali per i requisiti completi, le date e le regole di partecipazione.

Descrizione

300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz Halbautomatisches 300-mm-HF-Messsystem mit kontrollierter Trockenatmosphäre - Halbautomatisches 300-mm-Probersystem für On-Wafer-Messungen - Integrierte kontrollierte Trockenatmosphäre zur Vermeidung von Kondensation und Eisbildung bei Messungen unter Umgebungstemperatur - Systemdesign mit definierter Schnittstellenarchitektur zur Integration optionaler thermischer Spannfutter (thermal chuck) über standardisierte mechanische, elektrische und softwareseitige Schnittstellen - Automatische Erkennung von Wafergrößen (150 mm, 200 mm, 300 mm sowie Einzelchips bis 5 × 5 mm) - Präzisions-XY-Tisch: mindestens 310 × 310 mm Verfahrbereich, Wiederholgenauigkeit < 1,0 µm, Genauigkeit < 2,0 µm - Präzisions-Z-Tisch: mindestens 30 mm Verfahrbereich, Wiederholgenauigkeit < 1,0 µm, Genauigkeit < 2,0 µm - Theta-Achse: ±5°, Auflösung ? 0,0001° - Gesteuerter Kontaktmechanismus mit ? 1 µm Wiederholgenauigkeit - Integrierter Schwingungsisolations- und Nivelliertisch - Zentrale Bedienkonsole zur Steuerung aller Achsen und Funktionen - Tastatur- und Mausablage integriert - Spannungsversorgung 100-240 V AC, 50/60 Hz

Fonte ufficiale

Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica sempre i dettagli nell'avviso ufficiale.

Ultima verifica su TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU) 1 mese fa

Vedi l'avviso ufficiale

Altro da questo committente

Profilo completo del committente

6 gare aperte in questo momento

Aggiudicazioni recenti

Cronologia delle modifiche

Ogni volta che una fonte ufficiale ha ripubblicato questo bando con contenuti diversi. Monitoriamo tutte le fonti che indicizziamo, comprese le copie regionali dello stesso bando.

  1. Agisci subito
    • Stato: Ora risulta Chiusa
    • Termine di presentazione: Anticipato di 1 giorno: ora 16 luglio 2026, 00:00
    • Oggetto e criteri: La descrizione è stata ampliata. Rileggila prima di partecipare.

Segui questa gara e ti scriviamo appena cambia. Crea account

Gare simili

Contesto di mercato

Gara aperta media · Apparecchiature di laboratorio e di precisione
5.559.298 €
2.022 aperte ora in Europa
Storico della stazione appaltante su Aperlena
28 avvisi tracciati · 12 aggiudicati
1.342.329 € in contratti aggiudicati

Non perderti nessuna gara come questa

64 nuovi avvisi per Apparecchiature di laboratorio e di precisione in Germania negli ultimi 7 giorni. Ricevi un'email quando escono nuovi avvisi. Gratis.

Crea il mio avviso
Fonte

Scorciatoie da tastiera

Scorri un elenco senza toccare il mouse. Le scorciatoie restano inattive mentre scrivi in un campo.

j
Risultato successivo
k
Risultato precedente
Invio
Apri il risultato
n
Pagina successiva
p
Pagina precedente
c
Confronta questo risultato
s
Aggiungi questo risultato alla shortlist
/
Vai al campo di ricerca
?
Mostra queste scorciatoie
Esc
Chiudi