Polska - Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego) - Dostawa spektrometru FT-IR z oprogramowaniem dla Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego Polskiej Akademii Nauk w Lublinie - 1 zestaw

1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa spektrometru FT-IR z oprogramowaniem dla Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego Polskiej Akademii Nauk w Lublinie - 1 zestaw. 2. Zakres zamówienia obejmuje dostawę na rzecz Zamawiającego spektrometru FT-IR z oprogramowaniem - 1 zestaw. Zamawiający wymaga zaoferowania okresu gwarancji na przedmiot zamówienia na minimum 24 miesiące. Oferty z krótszym okresem gwarancji niż określone powyżej zostaną odrzucone. 3. Nazwa zamówienia ujęta w tytule zamówienia nie stanowi nazwy własnej producentów/dystrybutorów produktów, lecz jest to oznaczenie wyłącznie pomocnicze zastosowane przez Zamawiającego. 4. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w Załączniku nr 1 do SWZ. 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa spektrometru FT-IR z oprogramowaniem dla Instytutu Agrofizyki im. B. Dobrzańskiego Polskiej Akademii Nauk w Lublinie - 1 zestaw. 2. Zakres zamówienia obejmuje dostawę na rzecz Zamawiającego spektrometru FT-IR z oprogramowaniem - 1 zestaw. 3. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w Załączniku nr 1 do SWZ. Spektrometr FT-IR z oprogramowaniem - 1 zestaw Lp. PARAMETRY WYMAGANE - MINIMALNE WARUNEK 1 Spektrometr FT-IR z oprogramowaniem Warunek konieczny 1.1 stosunek sygnału do szumu co najmniej S/N = 37 000:1 (dla rozdzielczości 4 cm^-1, 1 min. zbieranie widma, pik 2100 cm^-1, peak to peak) Warunek konieczny 1.2 okienko komory pomiarowej z wysoko-przepuszczalnego KBr Warunek konieczny 1.3 rozdzielczość nie gorsza niż: 0,9 cm^-1 Warunek konieczny 1.4 dostępne rozdzielczości do wyboru: 0,9; 2; 4; 8; 16 cm^-1 Warunek konieczny 1.5 zakres co najmniej: 7800 - 350 cm^-1 Warunek konieczny 1.6 dynamiczny interferometr Michelsona 30°(60°) ze zwierciadłem poruszanym elastycznym złączem mechanicznym i automatycznie ustawiany Warunek konieczny 1.7 uszczelniona optyka, dzielnik wiązki Ge/KBr, zabezpieczona przed wilgocią Warunek konieczny 1.8 laser półprzewodnikowy Warunek konieczny 1.9 precyzja liczby falowej nie gorsza niż 0,001 cm^-1 (przy 2000 cm^-1) Warunek konieczny Uwaga Kryterium oceny ofert 1.10 dokładność liczby falowej nie gorsza niż 0,1 cm^-1 Warunek konieczny 1.11 ceramiczne źródło promieniowania Warunek konieczny 1.12 detektor DLATGS z kontrolą temperatury bez konieczności chłodzenia Warunek konieczny 1.13 możliwość wbudowania w komorę interferometru automatycznego osuszacza - polimerowej membrany usuwającej elektrolitycznie wodę z wnętrza komory interferometru, eliminującej konieczność użycia wkładów osuszających Warunek dodatkowy Uwaga Kryterium oceny ofert 1.14 automatyczne ustawianie i ogniskowanie Warunek konieczny 1.15 próbka wzorca polistyrenowego Warunek konieczny 1.16 automatyczne rozpoznawanie przystawek odbiciowych, przystawek ATR i innych Warunek konieczny 1.17 komora pomiarowa w wymiarach minimalnych: 20 cm x 14 cm x 10 cm (szerokość x głębokość x wysokość) Warunek konieczny 1.18 wymiary nie większe niż: 39 cm x 25 cm x 21 cm (szerokość x głębokość x wysokość), tolerancja +10% Warunek konieczny 1.19 ciężar nie większy niż 8,5 kg (tolerancja +10%) Warunek konieczny 1.20 zużycie prądu podczas pracy - nie większe niż 75 VA Warunek konieczny Uwaga Kryterium oceny ofert 2. Oprogramowanie do sterowania przyrządem, walidacji, zbierania i opracowywania danych: Warunek konieczny 2.1 tryby pracy: postrun - tryb pracy do przetwarzania danych, pomiarowy, ilościowy, fotometryczny Warunek konieczny 2.2 wbudowane funkcje diagnostyki aparatu (przy inicjalizacji sprawdzane są systemy elektryczny, sygnałowy oraz optyczny), funkcja ciągłego monitorowania rodzaju dzielnika wiązki, źródła światła, lasera, warunków wilgotności i informacji odnośnie akcesoriów rozpoznanych przy starcie Warunek konieczny 2.3 licznik godzin pracy źródła ceramicznego, lasera i informacja o czasie pozostałym do następnego przeglądu serwisowego Warunek konieczny 2.4 uśrednianie widm Warunek konieczny 2.5 wszystkie zdarzenia diagnostyczne zapisywane w oddzielnym pliku z dokładną godziną oraz datą (log file) Warunek konieczny 2.6 wykonywanie podstawowych działań arytmetycznych, wykrywanie pików, korekcję zerowej linii bazowej, trzypunktową korekcję linii bazowej, wielopunktową korekcję linii bazowej, wygładzanie, różniczkowanie Warunek konieczny 2.7 wbudowane procedury Kubelka-Munk, Kramers-Kronig, korekcję widm ATR, przekształcenia fourierowskie FFT, całkowanie, zmiana absorbancji na transmitancję i odwrotnie, poszukiwanie widma, zamiana skali w cm^-1 na nm i odwrotnie Warunek konieczny 2.8 zapisywanie danych w formatach JCAMP-DX, ASCII, CSV Warunek konieczny 2.9 tworzenie raportów własnych lub na postawie istniejących wzorców zawartych w oprogramowaniu Warunek konieczny 2.10 zgodne z wytycznymi: EP, CHP, JP, USP, ASTM Warunek konieczny 2.11 zgodne z GLP/GMP Warunek konieczny 2.12 umożliwiające przeszukiwanie i tworzenie własnych bibliotek Warunek konieczny 2.13 moduł oprogramowania posiadający co najmniej 23 gotowe procedury pomiarowe wskazujące każdy krok analizy Warunek konieczny 2.14 zawierające standardowo bibliotekę widm FTIR co najmniej 12000 związków organicznych, polimerów, produktów farmaceutycznych, związków nieorganicznych, dodatków do żywności, zanieczyszczeń Warunek konieczny 2.15 zawierające dodatkowo bibliotekę widm FTIR co najmniej 3900 widm IR polimerów i dodatków do polimerów Warunek konieczny 2.16 zawierające dodatkowo bibliotekę widm FTIR tworzyw sztucznych poddanych procesowi termicznego niszczenia, co najmniej 110 widm Warunek konieczny 2.17 zawierające dodatkowo bibliotekę widm FTIR tworzyw sztucznych poddanych działaniu promieniowania - co najmniej UV 210 widm Warunek konieczny 3. Przystawka ATR: Warunek konieczny 3.1 Zakres spektralny co najmniej 7800-400 cm^-1 Warunek konieczny 3.2 Kryształ - diament Warunek konieczny 3.3 Kąt padania - 45° Warunek konieczny 3.4 Maksymalne ciśnienie nacisk nie mniejsze niż 10000 psi (ok. 689,47 Ba) Warunek konieczny 3.5 średnica co najmniej 1,8 mm Warunek konieczny 3.6 płyta wierzchnia ze stali nierdzewnej Warunek konieczny 3.7 Dodatkowy, łatwo wymienialny przez użytkownika dysk z wbudowanym kryształem wykonanym z Ge (germanu) Warunek konieczny 4. Rozkładana cela pomiarowa do pomiarów cieczy: Warunek konieczny 4.1 Okienka ZnSe typu plain oraz drilled o wymiarach 32x3 mm - po 1 szt. Warunek konieczny 4.2 Uchwyt pomiarowy z uszczelkami Warunek konieczny 4.3 Komplet przekładek o drodze optycznej 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.200, 0.500, 1.000 mm (po 2 szt. każdej z przekładek) Warunek konieczny 4.4 Strzykawka 2 cm^3 - 2 szt. Warunek konieczny (...) cd. w polu 5.1.6 Informacje ogólne - Informacje dodatkowe